部分测试芯片在测试前需要进行高温加热或低温冷却，测试前还需要通过加热装置对芯片进行高温加热或低温冷却。当自动上料机的来料方向与测试装置30中芯片的放置方向不一致时，测试前，还需要将芯片移载至预定位装置100对芯片进行预定位。本发明的实施方式不限于此，按照本发明的上述内容，利用本领域的普通技术知识和惯用手段，在不脱离本发明上述基本技术思想前... 【查看详情】

它的无源网路不是由外观上可分辨的电子元件构成，而是全部由微带线构成。对微带线的尺寸精度要求较高，所以主要用薄膜技术制造分布参数微波混合集成电路。混合集成电路基本工艺编辑为便于自动化生产和在电子设备中紧密组装，混合集成电路的制造采用标准化的绝缘基片。常用的是矩形玻璃和陶瓷基片，可将一个或几个功能电路制作在一块基片上。制作过程是先在基... 【查看详情】

涉及集成电路封装盒技术领域，具体为一种用于集成电路封装线的检测平台。背景技术：集成电路封装线的检测平台中检测前后需要使用到集成电路封装盒进行封装，集成电路封装盒可用于集成电路板的封装，现有技术中，集成电路封装盒在封装集成电路板时，集成电路板容易在集成电路封装盒中颠簸，受磨损影响，容易损坏，保护性较差，且集成电路板往往都是直接放置在... 【查看详情】

所述第二导向连接齿与所述头一调节齿条啮合传动,所述头一滑块靠近所述支脚的一侧固定连接若干均匀分布的缓冲弹簧的一端，所述缓冲弹簧的另一端固定连接有头一夹持板，所述头一夹持板的另一端支撑所述支脚；所述头一滑块上靠近所述头一固定板的一侧设有头一螺纹孔，所述第二滑块上设有与所述头一螺纹孔连通的第二螺纹孔，头一固定螺杆的一端穿过所述第二螺纹孔后与螺... 【查看详情】

自动化设备加工的结构以及特点：固定立柱类型的卧式加工中心就三种，立柱固定，主轴箱做Y向运动，工作台做较、X运动是一种，主轴箱做Y、较向运动，工作台做X向运动是一种；主轴箱做Y、X向运动，工作台做较向运动又是一种；这就是固定立柱卧式加工中心，此类结构的卧式加工中心具有结构刚性好、加工精度高、安装调整方便等特点。动立柱类型的卧式加工中心比较多... 【查看详情】

所述驱动柱和所述带轮之间还设有头一导向柱和第二导向柱，所述头一导向柱的一端转动连接在所述承载板上，所述头一导向柱的另一端沿竖直方向朝上，所述第二导向柱的一端转动连接在所述承载板上，所述第二导向柱的另一端沿竖直方向朝上；所述头一导向柱和所述第二导向柱均与所述v带外圈相接触且所述驱动柱、所述带轮、所述头一导向柱和所述第二导向柱形成四边形。优先... 【查看详情】

XY 精密工作台结构设计，由于XY 工作台需要放置于真空腔体内，XY 工作台结构越紧凑，真空腔体就越小，设备尺寸也 就相应减小。结构紧凑合理的XY 工作台有利于 降低真空腔体加工难度、减少能源浪费。XY 工作台整体处于真空腔体中，要求零部件结构密致性好，零部件材料不能逸出空气，材料表 面不能有挥发性油脂。XY 工作台需要完全暴露在特 种环... 【查看详情】

载带输送机构10承载载带料盘，当载带放出绷紧后，载带料盘一侧摆臂11上浮光电开关12识别到感应片13时，载带输送机构10中的感应电机驱动载带料盘旋转，当摆臂11回复垂直状态时停止旋转，来实现输送载带功能。轨道输送机构20上设有相间隔的装填工位201和检测工位202；摆臂机构50可在作为供料机构的晶环转盘机构30、装填工位201和检测工位2... 【查看详情】

机架上还设置有预定位装置，当待测试芯片的放置方向与测试装置测试时需要放置的芯片的方向不一致时，可以首先将待测试芯片移动至预定位装置，通过预定位装置对芯片的放置方向进行调整，保障芯片测试的顺利进行。芯片测试完成后再移动至预定位装置进行方向调整，保障测试完成后的芯片的放置方向与芯片的来料方向一致。机架上还固定有中转装置，自动上料装置的tray... 【查看详情】

顶针机构40包括竖向设置的支撑筒座41、竖向穿设在支撑筒座41内且顶端穿出支撑筒座41顶部的顶针42、盖设在支撑筒座41上的真空吸附筒43、驱使顶针42上下来回运动的驱动单元。真空吸附筒43和支撑筒座41之间形成一个真空腔以吸附蓝膜料盘，使得蓝膜料盘被吸附在真空吸附筒43的顶面。顶针42的顶端可向上移动穿出真空吸附筒43刺破蓝膜料盘以顶出... 【查看详情】

本发明的目的在于提供一种芯片测试机及芯片测试方法，本发明的芯片测试机的结构紧凑、体积较小，占地面积只一平米左右，可以满足小批量的芯片测试要求。其技术方案如下：本发明在一实施例中公开了一种芯片测试机。该芯片测试机包括机架，以及设置于机架上的移载装置、测试装置、自动上料装置、自动下料装置及不良品放置台，所述自动上料装置包括头一料仓及自动上料机... 【查看详情】

所述载台用于承载和输送条状芯片；所述扫码器用于读取条状芯片上的标识码并传送至所述处理器，所述处理器依据所述标识码向对应的服务器获取当前条状芯片的打点坐标数据，并传送打点坐标文件至所述打标机，所述打点坐标数据包括坐标信息和各坐标信息对应的测试结果信息；所述打标机根据所述打点坐标文件调用其存储的对应型号的打点模板，并依据所述打点模板和打点坐标... 【查看详情】