光学实验平台的特性为其共振频率。共振频率和振幅是负相关的，因此共振频率应尽可能地增大，从而将振动强度小化。平台和面包板会在一个特定的频率范围内发生振动。为了改善性能，每种尺寸的平台和面包板的阻尼效果都需要进行优化。平台阻尼需要进行各种测试，对其厚度/面积的比值进行优化。更大面积的平台（边长至少为10英尺或3米）具有厚度为12.2英寸（31... 【查看详情】

光学平台重要的作用是提供动态刚度，光路的稳定性主要受桌面长轴方向上点对点的相对运动影响。这些相对运动产生于桌面上搭建的设备、空气调节(HVAC)系统以及其他声音来源。削减这些振动的佳方案是在来源处即行隔绝，比如在设备与桌面间放置柔性垫、为排气管增加挡板或使用隔声罩。调整架的位移由一个不产生任何质量效应的激光测振仪来测量，实验使用主动阻尼光... 【查看详情】

大理石光学平台材质脆弱，害怕硬物的撞击、敲打。所以平时应注意防止铁器等重物磕砸大理石平台工作面，以免出现凹坑，降低大理石光学平台，影响使用。定期以微湿带有温和洗涤剂的布擦拭，大理石平台清洁时应少用水。然后用清洁的软布抹干和擦亮。定期以微湿带有温和洗涤剂的布擦拭大理石平台工作面。对于油迹，可用乙醇(酒精)(木精)或打火机电油擦拭，然后清洗及... 【查看详情】

光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤的低损耗熔接是影响光子晶体光纤耦合系统实用化的重要技术。针对自行设计的光子晶体光纤耦合系统,对其与普通单模光纤的熔接损耗机制进行了理论和实验研究。首先分析了影响熔接损耗的主要因素,然后理论计算了光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤之间的耦合损耗,结尾采用常规电弧放电熔接技术对光子晶体光纤耦合系统与单模光纤的... 【查看详情】

光学平台是提供一个水平、稳定的台面，供各种光学组件放置的实验平台。一般平台都需要进行隔振等措施，保证其不受外界因素干扰，使科学实验正常进行。光学平台隔振原理：①系统包括光学台面和隔振腿。可放置仪器并对振动进行控制，台面是隔振系统中重要的一部分，其主要作用是提供一个无相对形变的刚性平台，当有振动源传递到桌面时，桌面蜂窝结构和阻尼... 【查看详情】

半导体集成电路的晶圆级可靠性测试以及相关的数据处理手段，以期能够更加促进半导体集成电路的技术突破。从我国目前半导体集成电路的发展来看，要加强其相关测试技术的基础研讨，构建满足我国实际的可靠性保证流程，同时还应该构建和颁布相应的标准和要求，这对于提高我国集成电路产业的未来发展而言具有决定性的影响。中科检测除了能够开展半导体集成电路可靠性测试... 【查看详情】

光纤耦合系统按从强到弱的顺序的分类：(1)内容耦合。当一个模块直接修改或操作另一个模块的数据,或者直接转入另一个模块时，就发生了内容耦合。此时，被修改的模块完全依赖于修改它的模块。(2)公共耦合。两个以上的模块共同引用一个全局数据项就称为公共耦合。(3)外部耦合。若一组模块都访问同一全局数据项，则称为外部耦合。(4)控制耦合。一个模块在界... 【查看详情】

光子晶体光纤耦合系统按照其导光机理可以分为两大类：折射率导光型（IG-PCF)和带隙引导型（PCF）。带隙型光子晶体光纤耦合系统能够约束光在低折射率的纤芯传播。第1根光子晶体光纤耦合系统诞生于1996年，其为一个固体中心被正六边形阵列的圆柱孔环绕。这种光纤比较快被证明是基于内部全反射的折射率引导传光。真正的带隙引导光子晶体光纤耦合系统诞生... 【查看详情】

光纤耦合系统按从强到弱的顺序的分类：(1)内容耦合。当一个模块直接修改或操作另一个模块的数据,或者直接转入另一个模块时，就发生了内容耦合。此时，被修改的模块完全依赖于修改它的模块。(2)公共耦合。两个以上的模块共同引用一个全局数据项就称为公共耦合。(3)外部耦合。若一组模块都访问同一全局数据项，则称为外部耦合。(4)控制耦合。一个模块在界... 【查看详情】

目前民用领域对高性能、低成本保偏光纤耦合系统的需求越来越多，本书针对其制作中存在的速度慢、产量低、成品率低、系统件性能一致性差和产品成本高的缺点，介绍保偏光纤耦合系统制造过程中自动化保偏光纤精密对轴技术、保偏光纤耦合系统耦合机理、高性能保偏光纤耦合系统制造设备、熔融拉锥工艺参数与耦合系统性能相关规律，提出了一种利用与光纤方位角关系更敏感的... 【查看详情】

如果想使用几何光线来模拟多模光纤耦合系统，那么光纤的纤芯直径至少要比波长大10倍以上，这样纤芯可以支持比较多比较多的横模。如果光纤是可以传播二阶或三阶模的少模光纤，那我们必须使用物理光学来进行光纤耦合分析。在这篇文章中，“多模”定义为光纤支持太多种横模了，以至于光纤可以被视为一个导光管。当在物面上定义了一个具有确定尺寸和形状的扩展光源后，... 【查看详情】

在集成电路可靠性测试内，晶圆级别检测的主要作用是进行特载流子注入检测。利用变焦费米能级与实际量进行热载流子检测。在集成电路构件内，利用过源电压遗漏出现的载流子漏电极限，主要因为在较大电场强度遗漏四周，载流子流入较大电场范围下，高能能量子就会转到热载流子。同时，利用电子的相互撞击让热载流子产生的电子空穴使电力更深度的产生。2、数据处理集... 【查看详情】