自动化探针台搭配测试机能够对出厂晶圆片的电气参数、光学参数进行测试，根据测试结果评定上一道工序的工艺质量，并指导下一道工序。从全球市场看，半导体探针台设备行业集中度较高，目前主要由国外厂商主导，行业呈现较高垄断的竞争格局。鉴于自动化探针台是光、机、电高度一体化的产品，国内在这一方向研究几乎为零，市场主要被一些国外的大公司垄断。2017年投... 【查看详情】

探针台的作用是什么？探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上，从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单，例如连续性或隔离检查，也可以很复杂，包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件，这可以提供有关哪些工艺... 【查看详情】

手动探针台应用领域：Failureanalysis集成电路失效分析；Waferlevelreliability晶元可靠性认证；Devicecharacterization元器件特性量测；Processmodeling塑性过程测试(材料特性分析)；ICProcessmonitoring制成监控；PackagepartprobingIC封装阶... 【查看详情】

密封平台显微镜设备用户应采取接触固定的方法并予以充分的保护,要确保加工面与玻璃的接触面积大于5mm，而不应是所有光学平台显微镜本身就不能再进行其他的玻璃保护处理。用户一方面要保护好产品,一方面要保证安全拿人开刀才是很危险的事小尺寸全硬板状的平板显微镜工作时应该很结实,目视效果比小型的锥形led平板显微镜好，如果承受不住用手轻轻碰撞,需要在... 【查看详情】

目前精密光学仪器产品种类繁多,是为了在重复测量过程中对产品的每一步光路进行精确计算,保证一切不可修改并可重复执行的数据上报数据，精密光学仪器的工作原理主要是通过光学仪器的光学原理实现的。光学仪器经受适当的反射光和反射角,获得光路模拟图像，这些图像是光学仪器可读数据的一些特征代码,如模式比例、图像的矩阵、光线路径及路径关系的矩阵等。通过对光... 【查看详情】

热稳定性的关键之处在于各轴方向上都具有对称、各向均匀的钢制结构。钢制部件在热交换过程中的延伸性和收缩性是相似的，可以在温度变化过程中保持良好的平整度。钢制的蜂窝芯结构从顶板延伸到底板，中间并无塑料或铝质泄露管理结构，因此不会降低平台整体的刚度或是引入更高的热膨胀系数。我们采用钢质侧板，而不是木板，这样就消除了由于湿度而引起的环境不稳定因素... 【查看详情】

光学平台系列产品具有抗振性强,安装孔多等优点,主要用于在试验室搭建光路或固定仪器,也多用于工业,做为工作台使用.根据不同台面尺寸,不同材料,不同结构分为数个系列,同时备有光学平台支架供您选择。大型光学隔振平台外框采用刚性强,变形小,焊接性能好的好的中碳钢板;隔振层利用固有频率低,阻振性能强的蜂窝结构材料,能大限度控制振动的响应.面板采用高... 【查看详情】

在使用光学实验平台时，所有光学玻璃器件应保持清洁，避免各种污染，所有光学玻璃器件应保持清洁，避免各种污染，保持清洁使用时注意防尘防震;不要对着仪器说话、防尘、使用时注意防尘、防震;不要对着仪器说话、咳嗽等;测童时动作要轻缓，尽里使身体部位离开实测里时动作要轻验台面，以防震动:所用的光学元件比较精密，验台面，以防震动;所用的光学元件比较精密... 【查看详情】

硅光芯片耦合测试系统的测试站包含自动硅光芯片耦合测试系统客户端程序，其程序流程如下：首先向自动耦合台发送耦合请求信息，并且信息包括待耦合芯片的通道号，然后根据自动耦合台返回的相应反馈信息进入自动耦合等待挂起，直到收到自动耦合台的耦合结束信息后向服务器发送测试请求信息，以进行光芯片自动指标测试。自动耦合台包含输入端、输出端与中间轴三部分，其... 【查看详情】

晶圆测试基本的一点就是：晶圆测试必须能够辨别芯片的好坏，并使合格芯片继续进入下面的封装工艺。为了确保芯片功能和成品率的有效测试，封装厂商和设备制造者需要不断探索，进而找到高精度、高效率和低成本的测试方法，并运用新的组装工艺要求对晶圆片进行探测，这些要求将引起设备和工艺过程的重大变化。探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动，从功能上来... 【查看详情】

探针台为研究和工程实验室在测试运行期间移动通过多个温度点时，提供前所未有的自动化水平。这种新技术使探针系统能够感知，学习和反应以多温度和特征的极其复杂的环境。随着集成电路产品不断进入汽车应用等更高发热量的环境，在越来越宽的温度范围内表征器件性能和耐用性变得越来越重要。以前，大多数芯片在两个温度点进行晶圆级测试，通常为20˚C（室温）和90... 【查看详情】

光学实验平台普遍使用的振动响应传递函数为柔量。在恒定（静态）力的情况下，柔量可以定义为线性或角度错位与所施加外力的比值。在动态变化力（振动）的情况下，柔量则可以定义为受激振幅（角度或线性错位）与振动力振幅的比值。平台的任意挠度都可以通过安装在平台表面的部件相对位置变化表现出来。因此，根据定义，柔量值越小，光学平台就越接近设计的首要目标：将... 【查看详情】