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AOI 在 FPC（柔性印制电路板）检测中的应用，针对性解决了 FPC 柔性大、易变形导致的检测难题。爱为视 FPC AOI 设备采用柔性载台设计，可避免检测过程中 FPC 因受力产生的变形，同时搭载动态聚焦技术，能根据 FPC 的弯曲弧度实时调整镜头焦距，确保检测清晰度。设备可检测 FPC 的线路断裂、焊盘脱落、覆盖膜气泡、弯折痕等缺陷，支持大宽度 600mm 的 FPC 检测，检测速度达 0.8m/min，且具备自动校正功能，可补偿 FPC 在传输过程中的位置偏移，为 FPC 应用场景（如折叠屏手机、可穿戴设备）提供稳定的质检支持。​AOI检测数据实时上传，助力生产管理智能化。pcba aoi

AOI 在半导体封装引脚成型后的检测中，确保了引脚的尺寸精度与外观质量。爱为视半导体封装引脚成型 AOI 设备针对引脚的弯曲角度、间距、长度、外观缺陷（如引脚变形、镀层划痕）进行检测，采用激光测量技术与光学成像结合的方式，引脚尺寸测量精度达 ±0.005mm，外观缺陷检测精度达 0.01mm。设备支持不同封装形式（如 SOP、QFP、DIP）的引脚检测，检测速度达 200 颗 / 小时，且具备引脚尺寸统计功能，可生成尺寸分布直方图，帮助半导体封装企业优化引脚成型工艺，确保引脚尺寸符合下游 PCB 板的焊接要求。​什么是AOI原理AOI技术对透明、反光材质产品检测效果优异。

面对小批量、多品种生产趋势，爱为视AOI系统内置智能记忆库可存储多达500种产品检测程序，操作人员扫描二维码或输入型号代码，30秒内即可完成程序调用与适配。基于AI的自学习算法能自动识别产品特征变化，动态调整检测参数，某定制化电子产品企业应用后，换线效率提升80%。SM510机型更支持4种机种共线生产，程序自动调用，进一步提升产线灵活性。这一解决方案适配研发打样、多品类量产等场景，有效降低设备调试的时间成本，满足企业多样化生产需求。

AOI 在半导体封装测试环节中，是保障芯片品质的关键技术手段。爱为视半导体 AOI 检测设备针对芯片封装后的引脚变形、封装体裂纹、标记错印、胶体溢料等缺陷，采用多光谱成像技术与深度学习模型，能在 0.5 秒内完成单颗芯片的检测，且可兼容 QFP、BGA、CSP 等多种封装形式。设备内置的缺陷分类系统，能自动统计各类缺陷占比，生成可视化质检报告，帮助半导体企业快速定位生产问题根源，优化封装工艺参数。此外，该设备支持与 MES 系统对接，实现检测数据的实时上传与追溯，满足半导体行业对生产过程可追溯性的严格标准。​AOI系统支持远程监控功能，方便企业实时掌握检测状态。

AOI 在 FPC 柔性电路板弯折测试后的检测中，针对性解决了弯折后线路隐性缺陷的检测难题。爱为视 FPC 弯折后 AOI 设备采用高频振动检测与光学成像结合的技术，先通过模拟实际使用场景的弯折测试（可设定弯折角度、次数），再通过高分辨率相机捕捉弯折后线路的隐性裂纹、焊盘脱落等缺陷，检测精度达 0.01mm。设备支持记录每一次弯折测试的参数与检测结果，生成弯折寿命分析报告，帮助 FPC 厂商评估产品的弯折可靠性，优化 FPC 的材料选择与结构设计，满足折叠屏手机、可穿戴设备等对 FPC 弯折性能的高要求。​AOI检测设备支持离线编程，不影响生产线运行。广东aoi电路

AOI检测速度快，每小时可处理上千块电路板。pcba aoi

AOI 在半导体晶圆检测中的应用，为晶圆制造的早期缺陷识别提供了关键支持。爱为视半导体晶圆 AOI 设备针对晶圆表面的划痕、颗粒污染、氧化层缺陷、图形偏差等问题，采用深紫外光源（DUV）与高数值孔径镜头，能穿透晶圆表面氧化层，识别微小的内部缺陷，检测精度达 1nm 级别。设备支持 8 英寸、12 英寸晶圆的检测，检测速度达 2 片 / 小时，且具备自动晶圆定位功能，可识别晶圆的缺口与定位点，帮助半导体晶圆厂在制造早期发现缺陷，减少后续封装环节的成本浪费，提升晶圆的整体良率。​pcba aoi