南京高阻测试系统

智能驾驶对高性能SoC芯片的依赖日益加深。随着L2+至L4级自动驾驶技术的快速演进，车载计算平台对SoC（系统级芯片）的性能、可靠性与实时性提出了前所未有的高要求。这些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速单元，用于处理多传感器融合、路径规划与决策控制等复杂任务。然而，如此复杂的芯片架构对测试环节构成了巨大挑战。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借高达400 MHz的测试速率、512至2048个数字通道以及每通道高达128M的向量存储深度，能够高效覆盖智能驾驶SoC在功能验证阶段所需的高并发、高精度测试场景，为芯片从设计到量产提供坚实保障。国磊GT600SoC测试机兼容STDF、CSV等标准数据格式，便于HBM相关测试数据的SPC分析与良率追踪。南京高阻测试系统

国磊（Guolei）的SoC测试机（如GT600）虽然主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字、模拟及混合信号测试，但其技术能力与MEMS（微机电系统）领域存在多维度、深层次的联系。尽管MEMS器件本身结构特殊（包含机械微结构、传感器/执行器等），但在实际应用中，绝大多数MEMS芯片都需与**ASIC或SoC集成封装（如惯性测量单元IMU、麦克风、压力传感器等），而这些配套电路的测试正是国磊SoC测试机的**应用场景。MEMS-ASIC协同封装的测试需求，现代MEMS产品极少以“裸传感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的异质集成方案。例如，加速度计/陀螺仪中的MEMS结构负责感知物理量，而配套的ASIC则完成信号调理、模数转换、温度补偿和数字接口输出。这类ASIC往往具备高精度模拟前端（如低噪声放大器、Σ-Δ ADC）、可编程增益控制和I²C/SPI数字接口，属于典型的混合信号SoC。 国磊GT600配备24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引脚参数测量单元及TMU时间测量功能，可***验证此类MEMS配套ASIC的线性度、噪声性能、时序响应和电源抑制比，确保传感器整体精度与可靠性。高性能导电阳极丝测试系统价位国磊GT600凭高精度参数测量、多域电源控制与可编程软件平台，支持从90nm到7nm主流工艺节点电源门控测试。

适配多元化国产芯片架构 中国芯片产业呈现百花齐放态势：RISC-V CPU、存算一体AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架构层出不穷。这些芯片往往具有非标I/O、特殊电源域或混合信号需求。国磊（Guolei）GT600的16个通用插槽、多种VI浮动电源板卡（如-2.5V~7V）、每引脚PPMU及可选配的高精度模拟板卡，使其能灵活适配各类异构芯片的测试需求，避免因测试平台僵化而制约创新芯片的发展，从而维护技术路线的多样性与供应链的抗风险能力。保障关键领域芯片供应安全 在**、航空航天、智能电网、轨道交通、新能源汽车等关乎国计民生的关键领域，芯片供应链安全直接关系**。国磊（Guolei）GT600已应用于**AD/DA、显示驱动、MCU等芯片测试，未来可进一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等领域。通过部署国产测试设备，这些敏感芯片的测试数据、良率信息、失效模式等**知识产权得以保留在境内，杜绝信息泄露风险。

每通道PPMU：芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU（参数测量单元），是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI（强制电压测电流）模式下，精确测量nA级静态漏电流（Iddq），相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中，这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题，确保续航达标。在FIMV（强制电流测电压）模式下，可验证电源调整率，防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试（Quick Sentinel），在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测，大幅提升初筛效率。对于AI芯片，PPMU可逐核测量功耗，筛选出“能效比较好”**。这一“每引脚级”测量能力，让杭州国磊GT600成为芯片可靠性的“***守门人”。国磊GT600在400MHz速率下测试SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能验证。

杭州国磊SOC测试机：开启全场景智能测试新纪元在半导体测试领域，杭州国磊SOC测试机凭借***性能与创新技术脱颖而出，成为行业焦点。作为杭州国磊半导体设备有限公司的**产品，它专为系统级芯片（SoC）测试量身打造，以“弹性扩展+国产自研+全栈覆盖”三大**优势，为芯片测试提供一站式解决方案。 杭州国磊SOC测试机采用模块化弹性架构，拥有GC-36旗舰型、GC-18性能型、GC-8经济型三阶主机箱，灵活适配不同规模产线与实验室验证需求。其***“硬对接+线缆双模式”，支持机柜、桌面、机端部署，极大提升了设备部署的便捷性与灵活性。 在性能方面，杭州国磊SOC测试机实现多项突破。数字信号速率高达800Mbps，向量存储深度达128M，支持多站点并行测试，单机可同步运行32个测试单元，测试吞吐量提升300%，***缩短测试周期。同时，其高压测试范围覆盖-10V至+1000V，时间测量精度达1ps分辨率，满足**AD/DA芯片、MCU微控制单元等复杂芯片的严苛测试需求。 作为国产自研的典范，更在服务响应速度与定制化能力上**一步。其全流程测试覆盖能力，涵盖数字、电源、高压、大功率、射频分析等六大核心板卡矩阵，为芯片从研发到量产的全生命周期提供坚实保障。国磊GT600可利用高速数字通道捕获时钟与控制信号；结合TMU测量状态切换延迟；来验证DVFS策略的有效性。上海CAF测试系统研发

国磊GT600通过可扩展的硬件架构、高精度模拟测量能力和开放软件平台，为各高jiSoC提供定制测试方案。南京高阻测试系统

    GT600SoC测试机在测试高可靠性产品（如车规芯片、工业级MCU、航天电子、医疗设备芯片）时，展现出精度、***性、稳定性与可追溯性四大**优势，确保产品在极端环境下长期稳定运行。首先，高精度参数测量是可靠性的基石。GT600配备每通道PPMU（参数测量单元），可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电或潜在短路。这种“亚健康”芯片在常温下可能功能正常，但在高温或长期使用后极易失效。GT600通过精密筛查，提前剔除隐患，大幅提升产品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性测试项目。GT600可配合温控系统进行高温老化测试（Burn-in），在高温高压下运行芯片数百小时，加速暴露早期缺陷。其浮动SMU电源板卡能模拟车载12V/24V或工业设备的复杂电源环境，验证芯片在电压波动、负载突变下的稳定性。对于通信类高可靠产品，高精度TMU（10ps分辨率）可检测信号时序漂移，确保长期通信无误码。再次，高稳定性与长周期测试能力。GT600硬件设计冗余，散热优良，支持7x24小时连续运行，可执行长达数周的耐久性测试，模拟产品十年生命周期。128M向量深度确保长周期测试程序不中断，数据完整。***，数据可追溯性强。 南京高阻测试系统