企业商机
测试系统基本参数
  • 品牌
  • 国磊
  • 型号
  • 齐全
测试系统企业商机

灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构,不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽,支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合,并兼容多种VI浮动电源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出)。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求,无需为每款芯片重新开发整套测试硬件,***提升测试系统的复用率与投资回报率。AI边缘计算SoC用于机器人、穿戴设备MCU+AI架构芯片,GT600通过nA级PPMU、TMU支持端侧AI低功耗可靠性测试。高性能绝缘电阻测试系统行价

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杭州国磊以GT600为支点,正从区域企业成长为全国性半导体测试解决方案提供商。依托杭州“数字经济***城”的产业势能,GT600已服务于长三角多家AI芯片设计公司,并逐步向粤港澳、成渝等集成电路集群拓展。未来,随着中国AI芯片出海加速,GT600凭借高性价比与本地化服务优势,有望进入东南亚、中东等新兴市场。在乌镇互联网大会倡导“构建网络空间命运共同体”的背景下,GT600不仅是中国技术自主的象征,更是向世界输出“安全、高效、普惠”测试标准的载体,彰显中国硬科技企业的全球担当。福州高阻测试系统导电阳极丝(CAF)现象是导致电路失效的重要原因之一。

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    杭州国磊GT600SoC测试机之所以特别适用于高校科研场景,**在于其开放性、灵活性、多功能性与高性价比,完美契合高校在芯片教学、科研探索与原型验证中的独特需求。首先,高度开放的软件生态是科研创新的基础。GT600搭载GTFY软件系统,支持C++编程语言,并兼容VisualStudio等主流开发环境。这意味着高校师生无需依赖封闭的“黑盒子”软件,可自主编写、调试和优化测试程序,灵活实现各类新型芯片架构(如RISC-V、存算一体、类脑计算)的功能验证。这种开放性极大激发了学生的工程实践能力与教师的科研创造力。其次,模块化硬件架构支持多样化实验需求。GT600提供16个通用插槽,可自由混插数字、模拟(AWG/TMU)、电源(SMU/DPS)等板卡,构建从纯数字逻辑到混合信号的完整测试平台。无论是验证一颗自研MCU的GPIO功能,还是测试新型传感器接口的模拟性能,亦或是表征先进工艺下的漏电特性,GT600都能“一机多用”,避免高校重复采购多台**设备,***提升设备利用率。第三,高精度测量能力支撑前沿研究。GT600的PPMU可测nA级电流,TMU时间分辨率达10ps,适用于FinFET、GAA等先进工艺下低功耗器件的特性表征。

    杭州国磊(Guolei)SoC测试系统(以GT600为**)虽主要面向高性能系统级芯片(SoC)的数字与混合信号测试,但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力,能够有效支持多种MEMS(微机电系统)。以下是其具体支持的典型MEMS应用场景:1.惯性测量单元(IMU)IMU广泛应用于智能手机、无人机、AR/VR设备及智能驾驶系统,通常集成3轴加速度计+3轴陀螺仪(6DoF)甚至磁力计(9DoF)。其配套ASIC需完成微弱电容信号调理、Σ-ΔADC转换、温度补偿和SPI/I²C通信。杭州国磊(Guolei)支持点:利用24位高精度Digitizer板卡捕获nV~μV级模拟输出;通过TMU(时间测量单元)验证陀螺仪响应延迟与带宽;使用400MHz数字通道测试高速SPI接口时序(眼图、抖动);PPMU每引脚**供电,精确测量各工作模式功耗。 国磊GT600SoC测试机可以通过GPIB/TTL接口联动探针台与分选机,实现全自动测试。

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5G/6G通信芯片的“时序显微镜” 5G/6G基站与终端芯片对信号时序精度要求极高,微小抖动即可导致通信中断。杭州国磊GT600配备高精度TMU(时间测量单元),分辨率高达10ps(0.01纳秒),相当于光在3毫米内传播的时间,能精细捕捉高速信号边沿的微小偏移。这一能力对于验证基带芯片、射频前端、AD/DA转换器的时序一致性至关重要。杭州国磊GT600还可通过可选AWG板卡生成高保真模拟信号,测试芯片在复杂调制模式下的响应性能。其400MHz测试速率与100ps边沿精度,确保能覆盖PCIe、USB、MIPI等高速接口的协议测试需求。在通信技术快速迭代的背景下,杭州国磊GT600以“皮秒级”测量能力,为国产通信芯片的性能与稳定性提供精细验证,助力中国在6G赛道抢占先机。国磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD达-122dB,SNR110dB,适用于音频编解码器、高保真信号链芯片的失真分析。高阻测试系统

国磊GT600SoC测试机高密度集成设计降低系统体积与功耗,适配高通道数HBM测试的紧凑型测试台架部署。高性能绝缘电阻测试系统行价

现代AI芯片集成度极高,动辄拥有上千引脚,传统测试设备因通道数量不足,往往需分时复用或多轮测试,不仅效率低下,还可能遗漏关键时序问题。杭州国磊GT600比较高支持2048个数字通道,可一次性完成全引脚并行测试,确保高速数据总线、多核NPU互连、HBM内存接口等复杂结构的功能完整性与时序一致性。这一能力对寒武纪、壁仞、燧原等国产AI芯片企业尤为重要。在大模型训练芯片追求***带宽与低延迟的***,GT600的高通道密度成为验证真实工作负载下系统稳定性的关键工具,大幅缩短芯片从流片到量产的周期,助力国产AI算力快速落地数据中心与边缘场景。高性能绝缘电阻测试系统行价

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高通道密度(512~2048数字通道)——适配复杂AISoC引脚规模,现代AI芯片引脚数常超2000(如集成HBM堆栈、多核NPU、多电源域),传统测试设备通道不足。支持**多2048个数字通道,可一次性完成全引脚并行测试,避免分时复用导致的测试盲区。满足寒武纪、壁仞、华为昇腾等国产AI芯片的高集成度测试需求,助力其快速进入数据中心与边缘计算市场。超大向量深度(**高128M/通道)——实现真实AI负载场景回放,AI推理/训练涉及复杂算法流(如Transformer、CNN),需长时间、高覆盖率的功能验证。128M向量存储深度支持完整运行真实AI工作负载测试向量,捕获边界条件下的功...

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