SIR测试系统工艺

科研创新的“开放平台” 在高校与科研院所，芯片研发需要高度灵活的测试环境。杭州国磊GT600的开放式GTFY系统支持C++/Python编程，研究人员可自由开发测试算法，验证新型架构（如存算一体、类脑芯片）。其16个通用插槽可接入自研测试板卡，实现定制化测量。128M向量深度支持复杂实验程序运行，避免频繁加载。杭州国磊GT600还支持探针台接口，便于对晶圆上裸片进行特性表征。在国产芯片从“模仿”到“创新”的转型中，杭州国磊GT600不仅是量产工具，更是科研探索的“开放实验台”，为下一代半导体技术的突破提供关键支持。先进节点（如28nm及以下）漏电更敏感，国磊GT600的PPMU可测nA级电流，满足FinFET等工艺的低功耗验证需求。SIR测试系统工艺

AI芯片在推理或训练突发负载下，电流可在微秒级剧烈波动，易引发电压塌陷（VoltageDroop）。国磊GT600SoC测试机支持高采样率动态电流监测，可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流（InrushCurrent）与工作过程中的瞬态功耗波形，帮助设计团队优化去耦电容布局与电源完整性（PI）设计。其128M向量响应存储深度支持长时间功耗行为记录，用于分析AI工作负载的能耗模式。现代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模块，引脚数常超2000。国磊GT600支持**2048个数字通道与400MHz测试速率，可完整覆盖AI芯片的I/O接口功能验证。其512Sites高并行测试架构**提升测试吞吐量，降低单颗芯片测试成本，满足AI服务器芯片大规模量产需求。
杭州国磊绝缘电阻测试系统行价长时间稳定运行，支持1–1000小时持续测试，可靠性高。

    MEMS射频开关与滤波器（RFMEMS）用于5G通信前端模块，具有低插损、高隔离度优势。虽MEMS本体为无源器件，但常集成驱动/控制CMOS电路。杭州国磊（Guolei）支持点：测试驱动IC的开关时序（TMU精度达10ps）；验证控制逻辑与使能信号的数字功能；测量驱动电压（可达7V）与静态/动态功耗；虽不直接测S参数，但可确保控制电路可靠性，间接保障RF性能。光学MEMS（如微镜、光开关）应用于激光雷达（LiDAR）、投影显示（DLP替代）、光通信。其驱动ASIC需提供高精度PWM或模拟电压控制微镜偏转角度。杭州国磊（Guolei）支持点：AWG输出多通道模拟控制波形，验证微镜响应一致性；TMU测量开关建立时间与稳定时间；数字通道验证SPI配置寄存器功能；支持多通道同步测试，适配阵列式MEMS微镜模组。

高速数字接口验证保障系统集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自动驾驶）常集成SPI/QSPI接口，速率可达50MHz以上。国磊（Guolei）GT600支持400MHz测试速率和100ps边沿精度，不仅能验证数字协议合规性，还可进行眼图分析、抖动测试和建立/保持时间检查，确保MEMS模块在高速数据交互中不失效，避免因接口时序问题导致系统崩溃。并行测试提升MEMS量产效率 消费级MEMS芯片（如手机中的六轴传感器）年出货量达数亿颗，对测试成本极其敏感。国磊（Guolei）GT600支持比较高512 Sites并行测试，可在单次测试中同时验证数百颗MEMS-ASIC芯片，大幅降低单颗测试时间与成本。结合其向量存储深度（比较高128M）和ALPG（自动逻辑图形生成）功能，可高效覆盖复杂校准算法（如六点温度补偿）的测试流程。强大的软件系统，提供实时数据采集和深度分析功能。

可选AWG/TMU/Digitizer：混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG（任意波形发生器）、TMU（时间测量单元）和Digitizer（数字化仪），使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形，用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能，THD低至-122dB，信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率，可精确测量5G基带信号的抖动与延迟，保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号，用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时，杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形，实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC，无需外接多台设备，节省空间与成本。国磊GT600测试机可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工艺节点的电源门控测试。广东SIR测试系统供应商

界面友好，操作简便，极大降低使用门槛与培训成本。SIR测试系统工艺

    兼容探针台与分选机，打通晶圆到封装测试链路。智能驾驶芯片需经历晶圆测试（CP）与封装测试（FT）双重验证。杭州国磊GT600支持GPIB、TTL等标准接口，可无缝对接主流探针台与分选机设备，实现从裸片到成品的全流程自动化测试。尤其在高温、低温等车规级应力测试条件下，杭州国磊GT600的小型化、低功耗设计有助于在温控腔体内稳定运行，确保测试数据的一致性与可重复性，为芯片通过AEC-Q100认证提供可靠数据支撑。国产**测试设备助力智能驾驶产业链自主可控在全球半导体供应链紧张与技术封锁背景下，国产高性能测试设备的战略意义凸显。杭州国磊GT600作为国内少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC测试机，已获得行业专业客户认可，标志着我国在**ATE领域取得突破。对于智能驾驶这一关乎国家交通安全与科技**的关键赛道，采用国磊GT600不仅可降低对国外测试设备的依赖，更能通过本地化技术支持快速响应芯片厂商的定制需求，加速中国智能驾驶芯片生态的自主化与全球化进程。 SIR测试系统工艺