高性能GEN测试系统定制

当前，AI大模型与高性能计算正以前所未有的速度推动HBM（高带宽存储器）技术爆发式增长。HBM3、HBM3E成为英伟达、AMD、华为等巨头AI芯片的标配，全球需求激增，市场缺口持续扩大。然而，HBM不**改变了芯片架构，更对后端测试提出了前所未有的挑战——高引脚数、高速接口、复杂时序与电源完整性要求，使得传统测试设备难以胜任。国磊GT600测试机应势而生，专为应对HBM时代**SoC测试难题而设计。它不是直接测试HBM芯片，而是**服务于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能验证与量产测试，成为国产**ATE在HBM浪潮中的关键支撑力量，助力中国芯突破“内存墙”背后的“测试墙”。国磊GT600支持Access、Excel、CSV数据导出，便于模拟测试数据的曲线拟合与工艺偏差分析。高性能GEN测试系统定制

在现代手机SoC中，高速接口如LPDDR5内存、PCIe4.0存储、USB3.2/4.0数据传输等，已成为性能瓶颈的关键环节，其协议复杂、时序严苛，对测试设备的速率和深度提出极高要求。国磊GT600支持400MHz测试速率，可精细模拟高速信号边沿与时钟同步，确保接口在极限频率下稳定工作；其128M超大向量深度，足以容纳完整的AI大模型推理流程、多任务并发调度等长周期测试用例，避免传统设备因内存不足频繁加载数据导致的测试中断或覆盖不全，真正实现“一次加载，全程跑完”，保障功能验证的完整性与可靠性。盐城CAF测试系统生产厂家国磊GT600可用于测量电源上电时序（PowerSequencing），确保多域电源按正确顺序激发，避免闩锁效应。

AI芯片在推理或训练突发负载下，电流可在微秒级剧烈波动，易引发电压塌陷（VoltageDroop）。国磊GT600SoC测试机支持高采样率动态电流监测，可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流（InrushCurrent）与工作过程中的瞬态功耗波形，帮助设计团队优化去耦电容布局与电源完整性（PI）设计。其128M向量响应存储深度支持长时间功耗行为记录，用于分析AI工作负载的能耗模式。现代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模块，引脚数常超2000。国磊GT600支持**2048个数字通道与400MHz测试速率，可完整覆盖AI芯片的I/O接口功能验证。其512Sites高并行测试架构**提升测试吞吐量，降低单颗芯片测试成本，满足AI服务器芯片大规模量产需求。

AISoC的NPU模块不**需要功能验证，更需精确的参数测试与功耗评估。国磊GT600测试机配备每通道PPMU，可实现nA级静态电流（IDDQ）测量，**识别AI芯片在待机、低功耗模式下的漏电异常。其可选配高精度浮动SMU板卡，支持多电源域**供电与电流监测，用于验证DVFS（动态电压频率调节）和电源门控（PowerGating）策略的有效性。此外，国磊GT600测试机的GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率，可精确测量NPU唤醒延迟、中断响应时间等关键时序参数，确保AI任务的实时性与响应速度。国磊GT600高达512个数字通道，可同时测试集成模拟模块的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能验证。

在量子科研机构或企业构建本土化测控生态时，采用国产测试平台可降低技术封锁风险，加速从实验室原型到工程化产品的转化。虽然国磊（Guolei）GT600并非直接用于测量量子态或操控量子比特，但作为支撑量子系统“经典侧”电子学的**测试基础设施，它在量子芯片外围电路验证、控制SoC量产、供应链安全等方面具有不可替代的价值。未来，随着“量子-经典混合系统”复杂度提升，高性能SoC测试设备与量子科技的耦合将更加紧密。因此，杭州国磊（Guolei）的SoC测试系统不仅是半导体产业的利器，也正在成为量子科技产业化进程中的一块关键拼图。国磊GT600可验证电源门控（PowerGating）开关的漏电控制效果。国磊CAF测试系统厂商

国磊GT600的128M向量存储深度，支持长时间采集模拟信号动态行为，适用于锁相环（PLL）、振荡器等测试。高性能GEN测试系统定制

    杭州国磊GT600SoC测试机之所以特别适用于高校科研场景，**在于其开放性、灵活性、多功能性与高性价比，完美契合高校在芯片教学、科研探索与原型验证中的独特需求。首先，高度开放的软件生态是科研创新的基础。GT600搭载GTFY软件系统，支持C++编程语言，并兼容VisualStudio等主流开发环境。这意味着高校师生无需依赖封闭的“黑盒子”软件，可自主编写、调试和优化测试程序，灵活实现各类新型芯片架构（如RISC-V、存算一体、类脑计算）的功能验证。这种开放性极大激发了学生的工程实践能力与教师的科研创造力。其次，模块化硬件架构支持多样化实验需求。GT600提供16个通用插槽，可自由混插数字、模拟（AWG/TMU）、电源（SMU/DPS）等板卡，构建从纯数字逻辑到混合信号的完整测试平台。无论是验证一颗自研MCU的GPIO功能，还是测试新型传感器接口的模拟性能，亦或是表征先进工艺下的漏电特性，GT600都能“一机多用”，避免高校重复采购多台**设备，***提升设备利用率。第三，高精度测量能力支撑前沿研究。GT600的PPMU可测nA级电流，TMU时间分辨率达10ps，适用于FinFET、GAA等先进工艺下低功耗器件的特性表征。 高性能GEN测试系统定制