每一部智能手机的**都是一颗名为SoC的“超级大脑”。以苹果为例,每一代iPhone都搭载自研的A系列或M系列芯片(如A18、M4)。这颗芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基带、内存控制器等数十个模块。但这颗芯片在量产前,必须经历SoC测试机成千上万次的测试。比如功能验证:检查芯片的每一个逻辑门是否正常工作。当你用iPhone拍照时,ISP是否能正确处理图像?A18芯片的NPU是否能准确识别人脸?国磊GT600芯片测试机会模拟各种使用场景,输入测试向量,验证输出结果。性能筛选:国磊GT600SoC芯片测试机会进行速度分级测试,将芯片分为不同等级。只有通过最高速度测试的芯片,才会被用于旗舰机型。功耗与漏电检测:手机续航至关重要。国磊GT600芯片测试机的PPMU能精确测量芯片的静态电流(Iddq),确保待机时不“偷电”,避免手机“一天三充”。可靠性保障:在极端温度、电压下运行芯片,筛选出可能早期失效的“弱鸡芯片”。国磊GT600芯片测试机支持老化测试,确保每一颗装进iPhone的芯片都经得起长期使用。混合信号测试:现代SoC不仅有数字电路,还有大量模拟模块(如音频编解码、电源管理)。国磊GT600芯片测试机可选配AWG和TMU,精确测试这些模拟功能,确保通话清晰、充电稳定。支持定制化线缆长度,适应各种测试环境需求。南京PCB测试系统精选厂家

“风华3号”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流图形生态,其图形管线包含顶点处理、光栅化、着色器执行等复杂阶段,测试需覆盖多种渲染模式与状态转换。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境,便于实现定制化图形功能测试算法,如Shader指令序列验证、Z-Buffer精度测试、纹理映射完整性检查等。其128M向量响应存储深度可捕获长周期图形输出行为,支持对帧率稳定性、画面撕裂等异常进行回溯分析。国磊GT600测试机还支持STDF、CSV等标准数据格式输出,便于良率追踪与测试数据与EDA仿真结果的对比验证。南京PCB测试系统精选厂家国磊GT600SoC测试机通过加载Pattern,验证SoC逻辑(如CPU、NPU、DSP)的功能正确性与逻辑测试及向量测试。

当前,AI大模型与高性能计算正以前所未有的速度推动HBM(高带宽存储器)技术爆发式增长。HBM3、HBM3E成为英伟达、AMD、华为等巨头AI芯片的标配,全球需求激增,市场缺口持续扩大。然而,HBM不**改变了芯片架构,更对后端测试提出了前所未有的挑战——高引脚数、高速接口、复杂时序与电源完整性要求,使得传统测试设备难以胜任。国磊GT600测试机应势而生,专为应对HBM时代**SoC测试难题而设计。它不是直接测试HBM芯片,而是**服务于“集成了HBM的AI/GPU芯片”的功能验证与量产测试,成为国产**ATE在HBM浪潮中的关键支撑力量,助力中国芯突破“内存墙”背后的“测试墙”。
在HBM技术快速迭代的背景下,芯片企业亟需灵活、开放的测试平台,以快速响应设计变更与测试需求升级。国磊GT600测试机搭载开放式GTFY软件系统,支持VisualStudio与C++开发环境,让工程师能够自由定制测试流程,快速开发复杂测试程序。系统兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流数据格式,无缝对接现有数据分析平台。同时,GT600提供测试向量转换工具,可轻松迁移其他平台的测试方案,大幅缩短导入周期。对于正在布局HBM产品的国产AI芯片公司而言,GT600不**是一台测试机,更是一个灵活、高效、可扩展的测试生态,助力客户在激烈的市场竞争中抢占先机。国磊GT600SoC测试机可选配GT-TMUHA04板卡,提供10ps时间分辨率与0.1%测量精度,用于HBM接口时序对齐测试。

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度,相当于可存储1.28亿个测试步骤,这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大,如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈,这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足,测试机需频繁从硬盘加载数据,导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存,实现“全速连续运行”,避免性能瓶颈。在工程调试阶段,长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片,128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊GT600SoC测试机可以输出STDF、CSV等格式,用于良率分析(YieldAnalysis)与SPC监控。福州CAF测试系统供应商
国磊GT600高密度集成设计降低系统体积,适配探针台有限空间下的模拟晶圆测试(CP)应用。南京PCB测试系统精选厂家
天玑9000系列集成了高性能CPU集群与**NPU,支持多模态AI推理、端侧大模型运行,其芯片内部信号复杂度远超传统SoC。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道和400MHz测试速率,可完整覆盖天玑类SoC的高并发I/O接口测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂AI指令序列的Pattern加载,确保NPU功能逻辑的完整验证。更关键的是,GT600支持512Sites高并行测试,**提升测试吞吐量,降低单颗芯片测试成本,满足手机SoC大规模量产的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量产”的竞争中,国磊GT600测试机为国产SoC厂商提供了高效、稳定的测试保障。南京PCB测试系统精选厂家
杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其高精度、高可靠性与混合信号测试能力,特别适用于对安全性和稳定性要求极高的**医疗设备芯片的测试。以下几类关键芯片非常适合使用杭州国磊GT600进行验证: 1. 医用SoC与微控制器(MCU) 现代医疗设备(如便携式超声仪、智能监护仪、血糖仪)的**是集成了CPU、ADC、DAC、无线通信模块的SoC或MCU。国磊GT600可***验证其数字逻辑功能,并通过可选AWG和Digitizer板卡,精确测试模拟前端(AFE)对生物电信号(如心电ECG、脑电EEG)的采集精度与噪声抑制能力,确保测量数据真实可靠。 2. 高精度模拟与混合信号芯片 医疗设备依赖高精度A...