医疗电子设备的测试技术是确保医疗设备性能稳定、安全可靠的重要手段。这些测试板卡集成了高精度的测量单元、智能控制算法和可靠的通信接口,以满足医疗设备复杂多变的测试需求。技术特点:高精度测量:采用先进的传感器技术和信号处理算法,能够实现对医疗设备各项参数的精确测量,如电压、电流、频率、波形等,确保测试结果的准确性和可靠性。多功能性:测试板卡通...
查看详细 >>杭州国磊半导体设备有限公司正式发布多款高性能测试板卡,标志着公司在半导体测试领域的技术实力再次迈上新台阶。此次发布的测试板卡,集成了国磊科技多年来的技术积累与创新成果,具有高精度、高效率、高可靠性等特点。它不仅能够满足当前复杂多变的测试需求,还能够为未来的科技发展提供强有力的支持。国磊半导体自成立以来,始终致力于成为具备国际竞争力的泛半导...
查看详细 >>工业自动化测试板卡通过集成高精度的传感器、调控器和通信接口,能够实时监测和把控生产线上的各个环节,确保生产过程的稳定性和产品质量,因此在工业自动化生产线上的应用非常重要。主要应用方面包括:设备监测与故障诊断:测试板卡能够实时监测生产线上设备的运行状态,如温度、压力、振动等关键参数,一旦发现异常,可立即触发报警,便于技术人员迅速查找问题点并...
查看详细 >>用于评估网络设备性能的高密度测试板卡,是确保网络基础设施效率高、稳定运行的关键工具。这些测试板卡通常具备以下特点:高密度接口:高密度测试板卡集成了大量的高速网络接口,如SFP+、QSFP28等,支持同时连接多个网络设备,如交换机、路由器等,实现大规模的网络性能测试。这种高密度设计能够显著提高测试效率,降低测试成本。高精度测量:测试板卡采用...
查看详细 >>杭州国磊推出的GM8800多通道绝缘电阻测试系统,是践行“为半导体产业发展尽绵薄之力”使命的具体体现。该系统具备业界**的256通道测试能力,电阻测量范围覆盖10^4~10^14Ω,测量精度高,能够精细表征各类绝缘材料、电子元件、PCB板在直流偏压和环境应力下的绝缘性能退化行为,特别是对导电阳极丝(CAF)现象进行有效监测与预警。GM88...
查看详细 >>新兴技术对测试板卡市场的影响主要体现在物联网、大数据、云计算等技术的快速发展上。物联网技术:物联网设备的普及和多样性对测试板卡提出了更高要求。物联网设备的高度复杂性和互连性需求,促使测试板卡必须支持多协议、多接口,同时具备更高的测试精度和稳定性。物联网技术的快速发展推动了测试板卡向更加智能化、自动化方向发展,以满足大量设备的快速测试和验证...
查看详细 >>针对2.5D/3D封装底部填充胶,在100V偏压与85%RH条件下执行CAF测试。GM8800系统突破性实现10¹⁴Ω超高阻测量(精度±10%),可检测0.01%吸湿率导致的绝缘衰减:1、空间定位:电阻突变频谱分析功能,定位封装内部±0.5mm级CAF生长点。2、过程监控:1~600分钟可调间隔捕捉阻值从10⁶Ω到10¹³Ω跃迁曲线。3、...
查看详细 >>杭州国磊半导体设备有限公司正式发布多款高性能测试板卡,标志着公司在半导体测试领域的技术实力再次迈上新台阶。此次发布的测试板卡,集成了国磊科技多年来的技术积累与创新成果,具有高精度、高效率、高可靠性等特点。它不仅能够满足当前复杂多变的测试需求,还能够为未来的科技发展提供强有力的支持。国磊半导体自成立以来,始终致力于成为具备国际竞争力的泛半导...
查看详细 >>杭州国磊半导体设备有限公司正式发布多款高性能测试板卡,标志着公司在半导体测试领域的技术实力再次迈上新台阶。此次发布的测试板卡,集成了国磊科技多年来的技术积累与创新成果,具有高精度、高效率、高可靠性等特点。它不仅能够满足当前复杂多变的测试需求,还能够为未来的科技发展提供强有力的支持。国磊半导体自成立以来,始终致力于成为具备国际竞争力的泛半导...
查看详细 >>绝缘电阻导电阳极丝测试(ConductiveAnodicFilament,简称CAF测试)不仅可以帮助我们预防潜在故障,还可以提升产品的质量。通过严格的CAF测试,我们可以确保电路板的质量和可靠性达到行业标准或客户要求。众所周知,在当前充分竞争的市场局面下,过硬的产品品质将是企业能够继续生存和发展的基础条件。某些特定的行业还有相当高的准入...
查看详细 >>随着5G通信成为国内主流,6G技术的预研也早已开展。我们大胆预测6G技术对CAF测试的影响:虽然6G技术尚未商用,但预研阶段已经对PCB技术和CAF测试提出了新的挑战和要求。预计6G将采用新技术、新模式,满足并超越5G的通信要求,对PCB的性能和可靠性将提出更高的要求。5G和6G技术中的CAF测试具有严格的特殊需求,包括更严格的PCB设计...
查看详细 >>随着科技飞速发展,产品的小型化和复杂化使得PCB的布局密度逐渐提高。传统的CAF(导电阳极丝)测试已经面临诸多挑战,主要体现在以下几个方面:1.测试精度不够:随着PCB电路板小型化趋势的加剧,元器件的尺寸和间距不断缩小,使得传统的测试方法(如目检、ICT针床测试等)难以满足高精度测试的需求。飞针测试、X-ray等技术虽然提高了测试精度,但...
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