FCT治具的压板或载板在设计时位置一定要精确，不能让产品在测试时把测试板压坏。测试FCT治具的定位要准确，连接器对接要顺畅。测试FCT治具都会有一定设计一个盒子，把测试产品置于里内，在FCT治具设计时一定要保持盒的充足的空间，盒内的布局一定要合理。测试FCT治具预留的接口位置应正确，足够、布局合理。功能测试系统编辑数据存储与输出任何产品都...

FCT测试治具自动化功能的必要性：FCT治具测试一般是指PCBA上电后的测试，主要包括电压、电流、功率、功率元件、频率、占空比、亮度和颜色、字符识别、声音识别、温度测量、压力测量、运动控制,FLASH和EEPROM烧录等测试项目。大部分自动化FCT治具测试都是基于开放的软硬件系统结构设计的，可以灵活扩展硬件，快速轻松地建立测试程序；一般可...

ict设备有哪些功能？1.能够在短短的数秒钟内，全检出组装电路板(LoadedPCBoard)上零件-电阻、电容、电感、晶体管、二极管、稳压二极管、光偶器、继电器等零件，是否在我们设计的规格内运作。2.能够前期找出制程不良所在，如漏件(Missingpart)、折脚(Bending)、短路(Short)、锡桥(Bridge)、反向(Mis...

屏蔽箱传导方面：屏蔽箱传导是处理的关键部分，产品放进屏蔽箱在进行测试时候必然要与屏蔽箱外界通过接口进行通讯联系，需要连接测试仪器。如果接口滤波处理不好，连接仪器的射频线将变成天线将信号导入屏蔽箱内，那么就没有了屏蔽效果，隔离度极度下降。然而屏蔽箱测试也不能提供准确数据。所以屏蔽箱隔离度关键是需要把握的点在接口的处理上，然而针对不同测试产品...

导致ICT测试冶具测试不良的原因分析：IC空焊不良（以TestJet测试）测试值偏小，可能原因：1）IC的此脚空焊；2）测试针接触不良；3）从测试点至IC脚之间Open。4）IC此脚的内部不良（可能性极少）；测试值偏大，可能原因：1）有短路现象；2）IC此脚的内部不良（可能性极少）。4．元器件不良，测试值偏差超差比较小，则可能原因：1）器...

ICT测试治具检验标准：1.电源配线是否按+5V为2号针,+12V为15号针,+3.3V为10号针,GND为5号针；2.FIN零件,防呆针是否制成OPEN状态；3.TJ大小是否和IC一样大,是否压到其他零件(大小误差为+/-1mm；4.贴图正看A1是否在左上方；5.弹簧是否全部为16L,弹簧深7mm；6.TestJet牛角是否70mm,锁...

隔离箱信号屏蔽箱的作用是什么？防止电子通信设备信息泄漏，确保信息安全。电子通信信号会以电磁辐射的形式向外界传播（即EMPEST现象），敌方利用监测设备即可进行截获还原。电磁屏蔽室是确保信息安全的有效措施。军方面指挥通信要素必须具备抵御敌方电磁干扰的能力，在遭到电磁干扰攻击甚至更大等极端情况下，结合其他防护要素，保护电子通信设备不受毁损、正...

如何降低ICT测试治具的成本问题：测试治具的测试成本主要是测试设备选择与制作材料的成本。根据数据显示，若用于高密度板，当平均产量小于150平方公尺以下时，ICT测试治具测试成本将会高于$200(18%)以上，这已经不是一般生产所能承担的成本。但是随着电子产品的变化速度加快，使得单一电路设计版本的产品生命周期变短，因此电子产品的发展趋势将是...

应用领域：1、电磁波辐射屏蔽箱：针对高频电磁波防护。例如：移动电话基站、屏蔽WIFI信号、PHS、无线网络、信号、无线电话、雷达、电视与广播开线等无线传输电磁波防护，另外包括低频电源延长线电场等防护。2、科研方面：保护易受到低频静电放电影响的设备或生产设施。3、电子工业：减少高频电磁波与低频电场干扰。如半导体生产、封装、测试、手机厂和录音...

屏蔽箱自动化测试解决方案：PCBA的自动化功能测试不管测试的方式是什么样的，其系统结果主要分为以下部分：1、系统控制中心。这部分一般是PC、MCU、ARM等小型或者中型的中心处理器组成，它主要作用是控制整个测试过程的进程，并对每一步的测试内容进行判断和记录，得出测试结果。它是整个测试系统的重要大脑。2、控制执行部分。控制执行部分主要由I/...

ICT测试治具通用功能：全检出组装电路板上零件：电阻、电容、电感、电晶体、FETLED.ICT能够在短短的数秒钟内对普通二极体、稳压二极体、光藕器、IC等零件，否在设计的规格内运作。回馈到制程的改善。ICT能够先期找出制程不良所在如线路短路、断路、组件漏件、反向、错件、空焊等不良问题。包括故障位置、零件规范值、测试值，ICT能够将上述故障...

FCT测试治具使用前应该注意哪些事项?1、选择合适的测量治具：测量治具是icsocket测试治具的重要部分，对于不同的产品，LCR也会有多种测量治具，所以我们要选择合适的测量治具，这样不仅能方便快捷的测量，同时还能保证测量的准确性。2、选择正确的测试条件：元器件厂家所给出的器件参考值，表明要在规定的测试条件下才能完成，以及允许出现的偏差值...