智能一体化HTOL测试机，可靠性测试整体解决方案，自主研发可实时监控每颗芯片状态的高温老化测试炉，通过监测数据，可以实时发现问题并介入分析，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性。上海顶策科技有限公司，提供可靠性测试整体解决方案，包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备，以及测试方案制定，PCB设计制作，测试实验，满足各类芯片可靠性测试需求。有全程HTOL数据记录，保证HTOL测试质量，让报告更有说服力，下游客户更放心。TH801智能老化系统，自有发明专利智能实时在线监测技术。在线HTOL测试机现货
盖模拟，数字，混合信号，SOC，RF等各类芯片的可靠性方案设计，原理图设计，PCBlayout加工制作，老化程序开发调试，可靠性测试试验，出具可靠性报告等一条龙服务。自主研发在线实时单颗监测技术，通过监测数据，可实时发现问题并介入分析，大幅提高HTOL效率，节省更多时间、FA成本，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性，让报告更有说服力，下游客户更放心。20年以上的丰富测试技术积累及运营经验，拥有多项发明专利及软件著作权，自成立以来，已经为超过500家半导体公司提供高质量，高效率，低成本，一条龙测试解决方案！智能HTOL测试机多少钱上海顶策科技TH801智能老化系统，数据异常自动报警，大幅度降低HTOL问题分析难度。
20年以上的丰富测试技术积累及运营经验，拥有多项发明专利及软件著作权，上海顶策科技有限公司自成立以来，已经为超过500家半导体公司提供高质量，高效率，低成本，一条龙测试解决方案！可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案，包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备，以及测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发在线实时单颗监测技术，通过监测数据，可实时发现问题并介入分析，大幅提高HTOL效率，节省更多时间、FA成本，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性，让报告更有说服力，下游客户更放心。
芯片ATE程序开发及FT测试FT（FinalTest）是芯片在封装完成以后进行的*终的功能和性能测试，是产品质量控制*后环节，通过ATE+Handler+loadboard检测并剔除封装工艺和制造缺陷等生产环节问题的芯片。测试程序覆盖功能和全pin性能参数，并补充CP未覆盖的功能。服务内容：老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验在要求点(如0、168、500、1000 hr)进行 ATE 测试，确定芯片是否OK, 记录每颗芯片的关键参数，并分析老化过程中的变化。TH801智能老化系统，方便灵活配置芯片状态、施加信号，提高HTOLdebug及Setup效率。
上海顶策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在线监控动态老化设备，可以监控的参数除了整板的电压，电流，还可以根据需求，监控到老化中每颗芯片的电压、电流，寄存器数据，时间，频率等诸多参数，并实时记录保存成Excel文档。这样不仅可以确保每颗芯片都处于正常的老化状态，保证老化测试的质量，同时还可以清楚地知道具体失效的参数，以及在什么时间点失效等诸多信息，非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以监控更多芯片参数，这使得免除ATE回测成为可能，这将大幅度提高老化测试效率，节省更多人力成本！这项技术目前已在对芯片质量要求较高的芯片设计公司广泛应用。TH801智能老化系统，设备体积小，重量轻，功耗小，节能环保，干净整洁，操作简单，易于上手。在线HTOL测试机现货
上海顶策科技提供可靠性测试整体解决方案，包括各类可靠性测试设备，满足各类芯片的测试需求。在线HTOL测试机现货
芯片HTOL测试如何做到省力省心？上海顶策科技有限公司，提供可靠性测试整体解决方案：可靠性设备，HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟，数字，混合信号，SOC，RF等各类芯片的可靠性方案设计，原理图设计，PCBlayout加工制作，老化程序开发调试，可靠性测试试验，出具可靠性报告等全方面服务。保证HTOL测试质量，通过监测数据，可实时发现问题并介入分析，大幅度提高HTOL效率，节省更多时间、FA成本，全程数据记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL数据记录，让报告更有说服力，下游客户更放心。在线HTOL测试机现货
