池州京东方用的蚀刻液剥离液配方技术

本发明采用一种选择性剥离制备微纳结构的新方法，可制备出任意负性光刻胶所能制备的任意图形且加工效率比传统的加工方法提高了上万倍(以直径为105nm的结构为例),特别是为跨尺度结构的加工，为光学领域，电学领域，声学领域，生物领域，mem制造，nems制造，集成电路等领域提供了一种新的解决方案。本发明的技术方案如下：一种选择性剥离光刻胶制备微纳结构的方法，包括以下步骤：步骤一、提供衬底，并清洗；步骤二、对衬底进行修饰降低光刻胶与衬底的粘附力；步骤三、衬底上旋涂光刻胶得到薄膜；步骤四、在光刻胶上加工出所需结构的轮廓；所述所需结构包括若干**单元，**单元外周形成有闭合的缝隙；步骤五、在光刻胶上覆盖一层黏贴层；步骤六、自所需结构以外的光刻胶的边沿处揭开黏贴层，黏贴层将所需结构以外的光刻胶粘走，留下所需结构即衬底上留下的微纳结构；黏贴层与光刻胶的粘附力a大于光刻胶与衬底的粘附力b。进一步的改进，在供体衬底表面修饰光刻胶抗粘层为高温气体修饰法或抽真空气体修饰法；高温气体修饰法包括如下步骤：将衬底和光刻胶抗粘剂置于密闭空间中，其中，密闭空间的温度控制在60℃-800℃之间，保温1分钟以上，直接取出衬底。如何正确使用剥离液。池州京东方用的蚀刻液剥离液配方技术

所述的链胺为乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、二甘醇胺、异丙醇胺、甲基二乙醇胺、amp-95中的任意一种或多种。技术方案中，所述的环胺为氨乙基哌嗪、羟乙基哌嗪、氨乙基吗啉中的任意一种或多种。技术方案中，所述的缓蚀剂为三唑类物质。的技术方案中，所述的缓蚀剂为苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑中的任意一种。技术方案中，所述的润湿剂含有羟基。技术方案中，所述的润湿剂为聚乙二醇、甘油中的任意一种。经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：本发明中加入环胺与链胺，能够渗透、断开光刻胶分子间弱结合力，能够快速、有效地溶解光刻胶，而配方中加入润湿剂，能够有效地减少接触角，增强亲水性，使得剥离液亲水性良好，能快速高效地剥离溶解光刻胶。附图说明：图1为配方一和配方二的剥离液滴落在平面时两者的接触角对比图。图2为配方一和配方二的剥离液应用是光刻胶的残留量对比图。具体实施方式现有技术中的剥离液其水置换能力较差，容易造成面板边缘光刻胶残留，本申请经过大量的试验，创造性的发现，在剥离液中加入润湿剂，能够使固体物料(高世代面板)更易被水浸湿的物质，通过降低其表面张力或界面张力，使水能展开在固体物料。广东市面上哪家剥离液厂家现货华星光电用的哪家的剥离液？

实施例1～6：按照表1配方将二甲基亚砜、一乙醇胺、四甲基氢氧化铵、硫脲类缓蚀剂、聚氧乙烯醚类非离子型表面活性剂、n-甲基吡咯烷酮和去离子水混合，得到用于叠层晶圆的光刻胶剥离液。表1：注：含量中不满100wt％的部分由去离子水补足余量。以cna披露的光刻胶剥离液作为对照例，与实施例1～6所得用于叠层晶圆的光刻胶剥离液进行比较试验，对面积均为300cm2的叠层晶圆上的光刻胶进行剥离并分别测定剥离周期、金属镀层的腐蚀率和过片量(剥离的面壁数量)。对比情况见表2：表2：剥离周期/s金属腐蚀率/ppm过片量/片实施例1130～15015376实施例2130～15016583实施例3130～15017279实施例4130～15015675实施例5130～15016372实施例6130～15017681对照例180～20022664由表2可知，本用于叠层晶圆的光刻胶剥离液通过加入硫脲类缓蚀剂和聚氧乙烯醚类非离子型表面活性剂，使剥离效率有明显的提升，对金属腐蚀率降低20％以上，而且让过片量提高10％以上。以上所述的*是本发明的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

形成带有沉淀物的固液混合物，打开一级过滤罐进料管路上的电磁阀18，固液混合物进入一级过滤罐16的过滤筒中，先由一级过滤罐16的过滤筒过滤得到一级线性酚醛树脂，滤液由提升泵6送往搅拌釜的循环料口7，往复3次数后，一级线性酚醛树脂回收完成，关闭一级过滤罐进料管路上的电磁阀18，利用提升泵6将一级过滤罐16中滤液抽取到搅拌釜10内备用；2、向搅拌釜10中输入酸性溶液，与前述滤液充分搅拌混合再次析出沉淀物，即二级线性酚醛树脂，利用ph计检测溶液ph值，当达到5-7范围内即可，打开二级过滤罐13进料管路上的电磁阀17，带有沉淀物的混合液进入二级过滤罐13中，由其中的过滤筒过滤得到二级线性酚醛树脂，废液二级过滤罐底部的废液出口20流出，送往剥离成分处理系统。上述过滤得到的一级线性酚醛树脂可用于光刻胶产品的原料，而二级线性酚醛树脂可用于其他场合。苏州口碑好的剥离液公司。

本发明下述示例性实施例可以多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的具体实施例。应当理解的是，提供这些实施例是为了使得本发明的公开彻底且完整，并且将这些示例性具体实施例的技术方案充分传达给本领域技术人员。如图1所示，本发明提供的光刻胶剥离去除方法主要实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入：s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离；s5，对衬底表面进行清洗。本发明刻胶剥离去除方法主要实施例采用能与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应生成含氨挥发性化合物气体，与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应速率相等的等离子体氮氢混合气体能更高效的剥离去除光刻胶，有效降低光刻胶残留。进而避免由于光刻胶残留造成对后续工艺的影响，提高产品良率。参考图11和图12所示，在生产线上采用本发明的光刻胶剥离去除方法后，监控晶圆产品缺陷由585颗降低到32颗，证明本发明光刻胶剥离去除方法的的改善的产品缺陷，促进了产品良率的提升。天马微电子用哪家剥离液更多？南京剥离液商家

什么样的剥离液可以保护底部金属？池州京东方用的蚀刻液剥离液配方技术

图3是一现有技术光刻胶剥离去除示意图二，其离子注入步骤。图4是一现有技术光刻胶剥离去除示意图三，其显示离子注入后光刻胶形成了主要光刻胶层和第二光刻胶层。图5是一现有技术光刻胶剥离去除示意图四，其显示光刻胶膨胀。图6是一现有技术光刻胶剥离去除示意图五，其显示光刻胶炸裂到临近光刻胶。图7是一现有技术光刻胶剥离去除示意图六，其显示光刻胶去除残留。图8是本发明光刻胶剥离去除示意图一，其显示首先剥离去除主要光刻胶层。图9是本发明光刻胶剥离去除示意图二，其显示逐步剥离去除第二光刻胶层的中间过程。图10是本发明光刻胶剥离去除示意图三，其显示完全去除光刻胶后的衬底。图11是采用现有技术剥离去除光刻胶残留缺陷示意图。图12是采用本发明剥离去除光刻胶残留缺陷示意图。具体实施方式以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容充分地了解本发明的其他优点与技术效果。本发明还可以通过不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点加以应用，在没有背离发明总的设计思路下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。池州京东方用的蚀刻液剥离液配方技术