金像显微镜系统

显微镜的观察方法

明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。

暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。

偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。

微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 激光共聚焦显微镜的明显优势。金像显微镜系统

什么是体视显微镜？

体视显微镜，又称“实体显微镜”“立体显微镜”或称“解剖显微镜”，是一种具有正像立体感的显微镜，应用于材料宏观表面观察、失效分析、断口分析、生物学、医学、农林、工业及多种应用场景。

体视显微镜均采用两个单独的光学通路，对物体成像后的两光束被两组中间物镜----变焦镜组分开，并组成一定的角度称为体视角一般为12度--15度，再经各自的目镜成像，分别进入人的两只眼睛，每只眼睛看到的标本成像都不一样。这些额外的信息允许大脑通过融合左右图像来重建物体的三维图像。所以体视显微镜的成像拥有常规正置显微镜或者倒置显微镜所没有的立体感。当人们需要与标本进行互动时（例如解剖，筛选，微型雕刻，显微操作等），体视显微镜是很好的选择工具。 山东mitutoyo显微镜芯片测试观察用显微镜；

金相分析是人们通过金相显微镜来研究金属和合金显微组织大小、形态、分布、数量和性质的一种方法。显微组织是指如晶粒、包含物、夹杂物以及相变产物等特征组织。利用这种方法来考查如合金元素、成分变化及其与显微组织变化的关系：冷热加工过程对组织引入的变化规律；应用金相检验还可对产品进行质量控制和产品检验以及失效分析等。应用领域：金相显微镜电子目镜适用于任何标准的生物、体视、金相显微镜的拍摄，可以的应用于医疗卫生机构、实验室、研究所、高等学校做生物学、病理学、细菌学观察、教学和研究、临床实验和常规医疗检验；工厂、实验室对材料的分析和鉴定。金相显微镜由于易于操作、视场较大、价格相对低廉,直到现在仍然是常规检验和研究工作中常使用的仪器。

扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品，使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下，检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下，则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织，专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。

探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子，也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离，将图像画下来的样子。当然，具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜，STM显微镜因为需要测定电流，因此必须要求所测样品需要具有导电性，而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力，因此不需要考虑测定电流，所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低，主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光，在形变后激光的方向会发生偏折，因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。四种类型的显微镜头：单筒目镜、双筒目镜、三目以及根据人体工程改造的。体视 显微镜答疑解惑

透射电镜主要应用于半导体和芯片研发、缺陷分析和工业检测等方面。金像显微镜系统

显微镜透射照明的方式有两种：(1)临界照明这种照明要求聚光镜所成的光源像与被观察物体的物平面重合，如图1所示，相当于物面上放置一个光源，灯丝的形状同时出现在像面上，而造成不理想的观察效果。临界照明透射照明中，为使物镜的孔径角得以充分利用，聚光镜应有与物镜相同或稍大的数值孔径。临界照明聚光镜的孔径光阑常设在聚光镜的物方焦平面上，如果显微镜用的是远心物镜，聚光镜的出射光瞳与物镜的入射光瞳重合。聚光镜的光阑做成可变光阑，可任意改变射入聚光镜的孔径角，使之与物镜的数值孔径匹配。由于临界照明聚光镜的出射光瞳和像方视场分别与物镜的入射光瞳和物方视场重合，所以形成“瞳对瞳，视场对视场”的光管。临界照明的缺点在于当光源亮度不均匀或者呈现明显的灯丝结构时,将会反映在物面上，使物面照度不均匀，从而影响观察效果。为了达到比较均匀的照明，这种照明方式对发光体本身的均匀性要求较高，同时要求被照明物体表面和光源像之间有足够的离焦量。后续物镜的孔径角应该取大一些，如果物镜的孔径角过小，焦深会很大，容易反映出发光体本身的不均匀性。 金像显微镜系统

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