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扫描检测平台基本参数
  • 品牌
  • 匠信
  • 型号
  • JX-XS380-L
  • 加工定制
  • 电压
  • 24v
  • 功率
  • 100W
扫描检测平台企业商机

TOF3D传感器:

飞行时间法ToF

飞行时间是从TimeofFlight直译过来的,简称TOF。其基本原理是通过连续发射光脉冲(一般为不可见光)到被观测物体上,然后用传感器接收从物体返回的光,通过探测光脉冲的飞行(往返)时间来得到目标物距离。

TOF法根据调制方法的不同,一般可以分为两种:脉冲调制(PulsedModulation)和连续波调制(ContinuousWaveModulation)。

TOF深度相机对时间测量的精度要求较高,即使采用高精度的电子元器件,也很难达到毫米级的精度。因此,在近距离测量领域,尤其是1m范围内,TOF深度相机的精度与其他深度相机相比还具有较大的差距,这限制它在近距离高精度领域的应用。 线性扫描检测平台采用日系控制系统,设备稳定性高。上海线扫相机3D相机扫描检测平台推荐厂家

线性扫描检测平台采用高稳定性、高可靠性的PLC控制系统。PLC的优点:功能强,硬件配套齐全,用户使用方便,适应性强;可靠性高,抗干扰能力强;编程方法简单,维修工作量少,维修方便;体积小,能耗低。缺点:不能用于主电路的断路器,只能进行逻辑控制。PC机的优点:能实现原来PLC的控制功能,并且具有更强的数据处理能力、强大的网络通讯功能以及能够执行比较复杂的控制算法和其近乎无限制的存储容量等优势。缺点:基于PC的自动化控制也有其不足之处,其设备的可靠性、实时性和稳定性都较差。上海线扫相机3D相机扫描检测平台推荐厂家深圳匠信智能线性扫描检测平台可用于康耐视3D相机进行产品检测。

另一种非常适合光谱共焦传感器的应用是测量多层透明材料的厚度。与其他测量方法不同,光谱共焦传感器在测量这种物体时,需要一支探头就可以完成测量。测量被测物体前端面和后端面的反射光,从而得到层厚信息。由于测量只使用白光,无需额外附加激光安全措施。由于探头本身不含有任何电路,传感器探头还可以被用于有防爆要求的环境或者有电磁干扰要求的环境。而控制器可以被放置于安全距离以外。允许MAX长50m的光纤连接探头和控制器。但是,需要禁止在光路上存在遮挡物或小颗粒,这会影响测量精度,甚至使测量变得不可完成。由于采用的是光学测量方法,探头到被测物体的距离也有一定限制。

线性扫描检测平台采用PLC控制系统,保证了高稳定性和高可靠性。PLC的优缺点优点:功能强,硬件配套齐全,用户使用方便,适应性强;可靠性高,抗干扰能力强;编程方法简单,维修工作量少,维修方便;体积小,能耗低。缺点:不能用于主电路的断路器,只能进行逻辑控制。PC机的优缺点优点:能实现原来PLC的控制功能,并且具有更强的数据处理能力、强大的网络通讯功能以及能够执行比较复杂的控制算法和其近乎无限制的存储容量等优势。缺点:基于PC的自动化控制也有其不足之处,其设备的可靠性、实时性和稳定性都较差。匠信智能线性扫描检测平台采用PLC、三菱驱动器、触摸屏、三菱电机、机加件、微调、箱子、电气等组成。

双目结构光3D:

什么是结构光:就是带有一定结构的,而且我们自己是知道光源的这种结构的。结构光三维视觉也是基于光学三角测量原理。光学投射器将一定模式的结构光透射于物体表面,在表面上形成由被测物体表面形状所调制的光条三维图像。该三维图像由处于另一位置的摄像机探测,从而获得光条二维畸变图像。光条的畸变程度取决于光学投射器与摄像机之间的相对位置和物体表面形状轮廓(高度)。

直观上,沿着光条显示出的位移(或者偏移)与物体表面高度成比例,扭结表示了平面的变化,不连续显示了表面的物理间隙。当光学投射器与摄像机之间的相对位置一定时,由畸变的二维光条图像坐标便可重现物体表面三维形状轮廓。由光学投射器、摄像机、计算机系统即构成了结构光三维视觉系统。

结构光(Structuredlight):通常采用特定波长的不可见的红外激光作为光源,它发射出来的光经过一定的编码投影在物体上,通过一定算法来计算返回的编码图案的畸变来得到物体的位置和深度信息。根据编码图案不同一般有条纹结构光---enshape,编码结构光---MantisVision,Realsense(F200),散斑结构光--apple(primesense)。


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深圳匠信智能线性扫描检测平台可用于LMI 3D相机进行产品检测。上海线扫相机3D相机扫描检测平台推荐厂家

特定波长的Laser发出的结构光照射在物体表面,其反射的光线被带滤波的camera相机接收,滤波片保证只有该波长的光线能为camera所接受。芯片对接收到的光斑图像进行运算,得出物体的深度数据。

双目结构光系统

相位法:

近年来基于相位的光栅投影三维轮廓测童技术有了很大的发展,将光栅图案投射到被测物表面,受物体高度的调制,光栅条纹发生形变,这种变形条纹可解释为相位和振幅均被调制的空间载波信号。采集变形条纹并且对其进行解调可以得到包含高度信息的相位变化,然后根据三角法原理计算出高度,这类方法又称为相位法。基于相位测量的三维轮廓测量技术的理论依据也是光学三角法,但与光学三角法的轮廓术有所不同,它不直接去寻找和判断由于物体高度变动后的像点,而是通过相位测量间接地实现,由于相位信息的参与,使得这类方法与单纯光学三角法有很大区别。 上海线扫相机3D相机扫描检测平台推荐厂家

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