美国MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等。超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布可通过搅拌或者流动的形式直接测量未稀释、或不透明样品上等高浓度的样品；zeta电位仪的基本结构级应用。上海膜材料zeta电位仪方法
然而，颗粒并不是独自流动，他们周围会携带一薄层离子和溶剂。这一分离固定媒介与移动颗粒及其携带的离子和溶剂的界面叫做流体剪切面，而zeta电位正是这一界面的电位。因此zeta电位可以通过测量颗粒在已知电场中的流速来测定。早期的测量仪器（Rank微电泳仪）通过充满误差，慢速度的手动方法观察颗粒，并自动计算样品中zeta电位的分布。大多数系统在水介质中的这一值在±100mV范围内。产品应用：半导体研究半导体晶体表面残留杂质与磨蚀剂、添加剂和晶片表面之间的相互影响的净化机制。扬州液体zeta电位仪测量粒径使用zeta电位仪到底有什么好处？
在现实生产中，不少领域粉体改性效果评价方法还停留在很原始的阶段，比如检测碳酸钙粉体的包覆改性效果，有企业实验人员就拿改性过的粉体放进烧杯或者瓶子里，搅动后看沉降颗粒的占比，认为未沉降的就是完全包覆的。实际上，未完全被改性剂包覆或者过包覆都会导致颗粒不沉降。因此，这种检测手段并不够客观。但是无论是什么工艺，如果在使用前不经过可靠的改性效果评价的话，就无法判断这些粉体材料在使用中是否能发挥预定的作用。
可以测试微观参数，如德拜长度，杜坎数，双电层的面电荷密度等。流动电位法以上两种方法主要是测试液体的zeta电位，有很多客户需要测试固体表面的zeta电位，中空纤维内部的zeta电位，膜表面的zeta电位等如下图各式样品，此时即需要流动法来进行测试。即在样品池中加入样品，在一定压力梯度下将缓冲液推入样品池，缓冲液会带动样品表面的电荷流向样品池两边的电极，测试得到电压值。电声法：此方法优势有：样品无需稀释，原液进行测试分析样品的粒径和zeta电位值，更加准确表征样品本身状态。测试结果重复性比较好。zeta电位仪的特点是什么？上海艾飞思告诉您。
此方法的弊端有：样品必须要进行稀释后测试；不同浓度对测试结果影响比较大；测试结果重复性较差，一般在±10mV以内；市面上常见的厂家有法国Cordouan，英国马尔文等品牌。2）超声电声法（执行标准ISO-13099-1）电声法是采用声波信号，因此设备有声波的优势。穿透力强，可以进行原液测试。原液测试样品的zeta电位时和稀释后测试结果会不一样，因为原液时颗粒的双电层被压缩。目前市面上典型的厂家有美国DT，美国MAS。电泳光散射法市面上常见的测试zeta电位的方法是利用光学法，也就是电泳光散射法。zeta电位仪如何去使用呢？扬州原装zeta电位仪具体用途
Zeta电位分析仪的工作原理及特点。上海膜材料zeta电位仪方法
在分散层内，有一个抽象边界，在边界内的离子和粒子形成稳定实体。当粒子运动时，在此边界内的离子随着粒子运动，但此边界外的离子不随着粒子运动。1.什么是zeta电位？粒子表面存在的净电荷，影响粒子界面周围区域的离子分布，导致接近表面抗衡离子（与粒子电荷相反的离子）浓度增加。于是，每个粒子周围均存在双电层。绕粒子的液体层存在两部分：一是内层区，称为紧密层（Stern层），其中离子与粒子紧紧地结合在一起；另一个是扩散层，其中离子松散地与粒子相吸附。上海膜材料zeta电位仪方法
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