企业商机
YMS基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
YMS企业商机

在包含数百道工序的复杂制造过程中,任何微小的偏差都可能导致芯片失效。YMS能快速关联制造该芯片的所有工艺参数、数据等相关信息,帮助用户快速定位出现低良率的原因。并进行针对性的改善。

面对分散在Fab、封测厂等多个环节的“数据孤岛”,上海伟诺的良率分析管控系统提供了统一的智能分析平台。系统不仅自动采集并关联SPC、WAT、封装、测试等全链路数据,更能运用先进的统计模型与数据挖掘技术,自动生成多维度的分析图表与根因分析报告。这彻底改变了传统依赖人工、逐层排查的低效模式,帮助用户从海量数据中精确、高效地定位影响良率的关键工艺缺陷或测试异常,并将分析洞见直接转化为改善行动,形成从发现问题到解决问题的完整闭环。 测试结果同步YMS即启动分析,良率问题响应速度从天级缩短至小时级。工厂良率管理系统功能

工厂良率管理系统功能,YMS

良率管理的目标是将海量测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统通过自动化采集来自各类Tester平台的多格式数据,完成端到端的数据清洗与整合,消除人工干预带来的误差与延迟。在此基础上,系统构建标准化数据库,支持从批次级到晶圆级的多维度缺陷分析,例如识别某一时段内边缘区域良率骤降是否与刻蚀参数漂移相关。结合WAT、CP、FT数据的交叉验证,可区分设计缺陷与制造偏差,缩短问题排查周期。SYL与SBL的自动计算与实时卡控,为关键指标设置动态防线。周期性报告一键生成并支持PPT、Excel、PDF导出,使管理层能基于一致数据源快速决策。这种从数据到行动的闭环机制,明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命,持续推动YMS成为行业提质增效的基础设施。宁夏工厂良率管理系统定制清洗后的数据直接对接SYL/SBL计算模块,监控指标自动更新,减少人工干预。

工厂良率管理系统功能,YMS

国产芯片进入量产阶段后,对数据一致性、分析时效性和报告规范性提出更高要求。YMS自动汇聚来自SineTest、Juno、CTS8280等平台的测试结果,剔除重复与异常记录,形成高质量数据资产池。系统可实时识别某批次FT良率偏离趋势,并回溯其CP漏电参数与WAT栅氧特性,快速锁定问题环节。日报、周报按模板自动生成,内容涵盖良率趋势、区域缺陷对比、关键参数关联等,支持导出为标准格式用于客户审核或内部复盘。这种稳定、可追溯的数据支撑体系,为大规模量产提供决策底气。上海伟诺信息科技有限公司聚焦量产场景痛点,强化YMS在高负荷环境下的可靠性与输出规范性。

良率管理系统已成为现代半导体制造中提升质量管控能力的关键支撑。面对来自ETS88、93k、J750、Chroma等各类测试平台产生的stdf、csv、log、txt等多格式数据,系统通过自动化采集、解析与清洗,有效识别重复、缺失及异常信息,保障数据的完整性与准确性。基于标准化数据库,系统实现对良率数据的统一分类管理,并支持从时间趋势、晶圆区域分布等多个维度进行缺陷分析与监控。结合WAT、CP与FT参数变化,可精确定位影响良率的根本原因。灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报,并导出为PPT、Excel或PDF格式,明显提升管理效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,始终聚焦半导体行业软件研发,其YMS系统助力企业实现高效、智能的良率管理。YMS设置多级权限,既保障数据安全,又支持跨角色按需共享,协作更顺畅。

工厂良率管理系统功能,YMS

在已有MES或TMS系统的企业中,测试数据常因接口不兼容而需人工导出再导入,易造成延迟与错漏。YMS采用标准化数据接口与开放架构,支持与半导体封测工厂MES、TMS测试管理系统无缝对接,实现测试结果的自动同步。例如,CP测试完成后,良率与缺陷数据可实时推送至MES工单系统,触发下一步工艺决策;同时回传至TMS用于设备效能分析。灵活的数据映射规则允许企业按自身业务流程配置字段对应关系,在保障数据安全的前提下提升信息流转效率。这种深度集成使测试线与生产线真正形成闭环协同。上海伟诺信息科技有限公司依托对行业信息化架构的理解,确保YMS成为现有系统的能力延伸而非负担。YMS与MES、TMS深度集成,打破信息孤岛,实现从测试到生产的全流程数据贯通。工厂良率管理系统功能

图形化界面+智能标签,YMS让非专业人员也能快速看懂良率趋势与缺陷分布。工厂良率管理系统功能

芯片制造对良率控制的颗粒度要求极高,任何微小偏差都可能造成重大损失。YMS系统通过自动接入各类Tester平台产生的多格式测试数据,完成高精度的数据解析与整合,确保从晶圆到单颗芯片的良率信息真实可靠。系统依托标准化数据库,支持按时间、区域、批次等多维度进行缺陷聚类与根因追溯,帮助研发与制造团队快速响应异常。结合WAT、CP、FT等关键节点数据的变化,可深入剖析工艺稳定性或设计兼容性问题。SYL与SBL参数的自动计算与卡控,为芯片级质量提供双重保障。报表工具支持按模板生成周期报告,并导出为常用办公格式,提升信息流转效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来,专注于半导体系统软件研发,其YMS系统正成为国产芯片企业提升产品竞争力的关键助力。工厂良率管理系统功能

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着雄厚实力背景、信誉可靠、励精图治、展望未来、有梦想有目标,有组织有体系的公司,坚持于带领员工在未来的道路上大放光明,携手共画蓝图,在上海市等地区的数码、电脑行业中积累了大批忠诚的客户粉丝源,也收获了良好的用户口碑,为公司的发展奠定的良好的行业基础,也希望未来公司能成为*****,努力为行业领域的发展奉献出自己的一份力量,我们相信精益求精的工作态度和不断的完善创新理念以及自强不息,斗志昂扬的的企业精神将**和您一起携手步入辉煌,共创佳绩,一直以来,公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针,员工精诚努力,协同奋取,以品质、服务来赢得市场,我们一直在路上!

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