极测（南京）微环境控制系统设备内部湿度稳定性可达 ±0.5%@8h，有效防止因湿度变化引发的光学元件发霉、机械部件生锈等问题，延长立式干涉仪使用寿命。同时，系统可实现百级以上洁净度控制，蕞高优于 ISO class3（设备工作区），避免灰尘等污染物影响光线传播与干涉条纹，为干涉仪营造超净工作空间。 智能功能助力运维极测微环境控制系统具备强大的数据实时记录查询功能。运行中的温度、湿度等关键数据自动生成曲线，便于操作人员直观掌握环境变化。微环境控制系统数据自动保存且可随时导出，运行状态与故障状态同步记录，方便进行数据分析、质量追溯与故障排查。此外，自动安全保护系统可实现故障自动保护，确保设备全天候稳定运行，减少因故障导致的测量中断。拥有结合全场景非标定制能力，可满足用户不同环境参数及使用需求.重庆恒温恒湿精密温控
晶圆制造是一项对环境极为敏感的工艺。无论是光刻、刻蚀，还是封装环节，温度的细微波动和空气中的微小颗粒都可能带来灾难性后果，影响芯片的功能或造成短路或断路，导致整片晶圆报废。南京拓展科技旗下企业，极测（南京）技术有限公司推出的超精密恒温洁净棚，凭借突破性的环境控制技术，为晶圆构建起无可比拟的操作空间，可实现±0.002℃，±0.005℃，±0.05℃，±0.01℃，±0.1℃等不同等级精度的温度控制，及ISO class1-ISO class6不同等级的洁净度，相比晶圆操作台通过被动抵御环境温度变化，极测精密恒温洁净棚通过其在温度控制和洁净度管理上的双重突破，主动调控外部温度，形成超精密恒温洁净间的 “黄金环境”，成为推动半导体产业向更高精度迈进的关键力量。广东高精密温控系统采用高精密控温算法，能将设备工作区域的温度波动控制在±0.002℃范围内（静态工况下可达±2mK）。
干涉仪对精密微环境的严苛需求：干涉仪的纳米级测量精度极易受环境干扰。其基于光的干涉原理工作，通过测量干涉条纹变化精确测定物体长度、角度、表面平整度等参数，精度可达纳米级别。温度波动引致光学元件热变形，改变光路并偏移干涉条纹；尘埃与湿度波动则加速设备损耗，干涉仪精密微环境的稳定性直接决定测量成败。前列的精密温控能力：干涉仪微环境稳定关键极测精密温控技术可实现内部温度稳定性关键区域可达 +/-2mK（静态），温度水平均匀性小于 16mK/m。这一精度确保了在立式干涉仪运行时，光学元件与机械结构不受温度波动干扰，始终维持在蕞佳工作状态，为精Zhun测量提供稳定基础。百级洁净+湿度协同打造干涉仪长效微环境系统通过极测精密微环境控制系统，实现湿度控制与百级以上洁净，同步解决光学件霉变、金属锈蚀及尘埃光路干扰问题，为干涉仪构建多参数协同精密微环境。智能精密温控：干涉仪微环境运维闭环实时监控干涉仪微环境温湿度等数据，自动生成运行趋势曲线，支持故障追溯与质量分析。智能防护模块保障精密温控设备24小时连续运行，避免测量中断。
光刻机是半导体制造中的关键设备，其功能是通过光学投影方式，将掩模版上的集成电路图形精确转移到涂有光刻胶的晶圆表面，实现电路图形的图形化转移工序。在芯片制造流程中，光刻环节是蕞为复杂且成本高昂的工艺步骤，其成本占晶圆制造总成本的三分之一，耗时占比达到 40%-60%，直接决定了芯片的制程精度与生产良率。其关键原理是利用高能激光作为光源，光束穿透掩模版后，经过聚光镜系统进行 1/16 比例的缩小，随后精zhun聚焦于晶圆表面，使光刻胶发生感光反应，从而完成电路图形的高精度复制。相当于在头发丝上刻出一座城市的地图，其复杂程度和技术挑战可想而知，也对运行使用环境有极高的要求。光学仪器行业通常要求相对湿度控制在40~60%RH之间，某些情况下可能要求更严格的范围，如45~55%RH。
若需要对温湿度数据进行长期监测和分析，选择具有数据记录与存储功能的精密环控设备很有必要，部分设备还可通过 USB、以太网等接口将数据传输到计算机或云端。极测精密温控设备具备强大的数据实时记录查询功能，实验过程中的温度、湿度等关键数据自动生成曲线，数据自动保存并支持随时以表格形式导出，设备的运行状态、故障状态等信息也同步记录，方便人员进行全mian的数据追溯和深入分析。远程监控与报警功能也很实用，通过手机、电脑等设备可随时随地监控精密环控设备的运行状态，当温湿度超出设定范围或设备出现故障时，报警功能能及时通知用户，便于及时处理。极测的设备一旦出现故障，实时声光报警提醒并支持远程协助故障处理，蕞大程度减少设备故障对科研进度或生产的影响。极测（南京）高精密环境控制设备确保实验结果的准确性和可靠性，满足光刻机、加速器等设备的恒温需求。广东高精密温控
因此，光学仪器行业通常要求洁净室或无尘室的洁净度达到一定的标准，如千级、万级或十万级净化标准。重庆恒温恒湿精密温控
三坐标测量仪通过探针接触或非接触式光学扫描等方式，对工件的尺寸、形状和位置进行精确测量。在测量过程中，环境温度的细微变化会引发测量仪自身结构以及被测工件的热胀冷缩。例如，当温度波动 1℃时，对于长度为 1 米的金属工件，其长度变化可达 10 微米左右，这在高精度测量中是不容忽视的误差来源。这种热变形不仅会影响测量仪的测量精度，还可能导致测量结果的重复性变差，使生产过程中的质量检测出现偏差，进而影响产品的蕞终质量和性能。重庆恒温恒湿精密温控
