企业商机
电阻测试基本参数
  • 品牌
  • 新成,浙大鸣泉,广州维柯
  • 型号
  • GWHR-256
电阻测试企业商机

选择品牌的电阻测试配件可以保证其质量和售后服务。品牌通常具有丰富的经验和技术,能够提供高质量的产品和专业的技术支持。电阻测试配件是电子行业中不可或缺的测试工具,它的准确性和稳定性对于电子产品的制造和维修至关重要。在选择电阻测试配件时,需要考虑准确性、稳定性、适用范围和品牌信誉等因素。只有选择合适的配件,才能保证电子产品的质量和性能。广州维柯多通道SIR-CAF表面绝缘电阻电阻测试配件的稳定性也是一个重要的考虑因素。稳定的测试配件可以保证测试结果的一致性,减少误差的发生。不同的电子产品对电阻测试配件的要求不同,因此需要根据实际需求选择适用范围的配件。一般来说,具有多种电阻值可选的配件更加灵活和实用。选择品牌的电阻测试配件可以保证其质量和售后服务。离子污染导致异常的离子迁移,终导致产品失效,常见的是PCB板的腐蚀、短路等。广东sir电阻测试以客为尊

电阻测试

电阻值的测定时间可设定范围是:CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置,单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置,完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104-1x1014Ω,电阻测量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%,广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定:使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置,需设置测量电压,因为仪器恒压工作测量漏电流,用欧姆定理计算电阻值。贵州制造电阻测试销售厂家离子污染导致异常的离子迁移,终导致产品失效,最常见的是PCB板的腐蚀、短路等。

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广州维柯信息技术有限公司多通道SIR-CAF实时离子迁移监测系统——GWHR256-500,可在设定的环境参数下进行长时间的测试样品,观察并记录被测样品阻抗变化状况。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理,客户根据需要可导出为Excel表格式,对测试样品进行分析。***用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂,封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估,以及焊锡膏、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。通道数16-256/128/64/32(通道可选),测试组数1-16组(组数可选)测试时间1-9999小时(可设置)偏置电压1-500VDC(0.1V步进)测试电压1-500VDC(0.1V步进)偏置电压输出精度±设置值1%+200mV(5-500VDC)测试电压输出精度±设置值1%+200mV(5-500VDC)电阻测量范围1x106-1x1014Ω电阻测量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。

《GWHR256:打造绿色PCBA生产的守护神》环保与可持续性是当今电子制造业不可忽视的趋势。GWHR256系统在确保PCBA清洁度的同时,也助力企业向绿色生产转型。通过对清洗工艺的精细优化,减少清洗剂的过度使用,避免了资源浪费和环境污染。系统支持的水基清洗剂监测,更是推动了环保型清洗工艺的应用,体现了对环境负责的企业责任。【绿色理念,智能决策】通过实时监测与数据分析,企业能更好地理解不同清洗剂对PCBA清洁度的影响,选择低环境影响的清洗方案。GWHR256系统在提升PCBA品质的同时,也为企业的绿色生产战略提供了科学依据,是推动行业向更加可持续方向发展的强大推手。在这个数字化、绿色化并行的时代,GWHR256系统无疑是PCBA生产线上不可或缺的智能伙伴,为品质与环保双重目标的达成提供了强有力的支持。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理。

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在精密电子制造业的舞台上,每一块PCBA(印刷电路板组装)的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展,PCBA的复杂度与集成度不断提升,如何有效控制生产过程中产生的污染物,确保电路板的长期可靠性,成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统,正是这一挑战的解决方案。【深度洞察,精确监测】广州维柯多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统 GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准,专为PCBA的可靠性评估而设计,它能够实时监控SIR(表面绝缘电阻)和CAF(导电阳极丝)的变化,精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。绝缘体表面或内部有形成电解质物质的潜在因素。包括绝缘体本身的种类,构成,添加物,纤维性能,树脂性能。广东sir电阻测试以客为尊

表面绝缘电阻(Surface Insulation Resistance, SIR)是衡量PCB抗CAF能力的重要指标,低SIR值预示CAF风险。广东sir电阻测试以客为尊

线路板表面的每一种材料都有可能是电迁移产生的影响因素:无论是线路板材料和阻焊层、元器件的清洁度,还是制板工艺或组装工艺产生的任何残留物(包括助焊剂残留物)。由于这种失效机制是动态变化的,理想状况是对每种设计和装配都进行测试。但这是不可行的。这就提出了一个问题:如何比较好地描述一个组件的电化学迁移倾向。表面电子组件的电化学迁移的发生机理取决于四个因素:铜、电压、湿度和离子种类。当环境中的湿气在电路板上形成水滴时,能够与表面上的任何离子相互作用,使离子沿着电路板表面移动。离子与铜发生反应,它们在电压的作用下,被推动着在铜电路之间迁移。这通常被总结为一系列步骤:水吸附、阳极金属溶解或离子生成、离子积累、离子迁移到阴极和金属枝晶状生长。广东sir电阻测试以客为尊

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