温度电阻测试是一种特殊的电阻测试方法,用于测量电阻在不同温度下的变化。电阻在温度变化时会发生变化,这是由于电阻材料的温度系数导致的。温度电阻测试可以通过在待测电阻上施加一个恒定的电流或电压,然后测量电路中的温度来计算电阻的温度系数。温度电阻测试广泛应用于温度传感器和温度控制系统中,以确保系统的稳定性和准确性。还有一些其他的电阻测试方法,例如噪声电阻测试、频率电阻测试等。噪声电阻测试用于测量电阻中的噪声水平,以评估电路的性能和稳定性。频率电阻测试用于测量电阻在不同频率下的变化,以评估电路的频率响应特性。这些电阻测试方法在特定的应用场景中具有重要的意义,可以帮助工程师优化电路设计和改进产品性能。智能电阻可以直接通过连接到计算机或移动设备上进行测试。江苏销售电阻测试以客为尊
离子迁移(ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从材料方面:树脂与玻纤纱束之间结合力不足;解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料;填充空洞或树脂奶油层不足;解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料;树脂吸温性差;解决方案:胶片与基板中的硬化剂由Dicy改为PN以减少吸水;树脂与玻纤清洁度差(含离子成份);解决方案:使用Anti-CAF的材料;铜箔铜芽较长,易造成离子迁移;解决方案:选用Lowprofilecopperfoil;多大贵州销售电阻测试诚信合作根据客户实际需求定制,比如接入对应ERP系统。
1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。2、导电阳极丝(CAF)目前公认的CAF成因是铜离子的电化学迁移随着铜盐的沉积。在高温高湿条件下,PCB内部的树脂和玻纤之间的附力劣化,促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,树脂和玻纤分离并形成可供离子迁移的通道。PCB/PCBA绝缘失效失效机理绝缘电阻是表征PCB绝缘性能的一个简单而且容易测量的指标,绝缘失效是指绝缘电阻减小。一般,影响绝缘电阻的因素有温度、湿度、电场强度以及样品处理等。绝缘失效通常可能发生在PCB表面或者内部,前者多见于电化学迁移(ECM)或化学腐蚀,后者则多见于导电阳极丝(CAF)。1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。
10、在500小时的偏压加载后,可以进行额外的T/H/B条件。然而,**少要进行500小时加载偏置电压的测试,来作为CAF测试的结果之一。11、在确定为CAF失效之前,应该确认连接线两端的电阻是不是要小于菊花链区域的电阻。做法是将菊花链附近连接测试线缆的线路切断。所有的测试结束后,如果发现某块测试板连接线两端的电阻确实小于菊花链区域的电阻,那么这块测试板就不能作为数据分析的依据。常规结果判定:1.96小时静置后绝缘电阻R1≤107欧姆,即判定样本失效;2.当**终测试绝缘电阻R2<108欧姆,或者在测试过程中有3次记录或以上出现R2<108欧姆即判定样本失效。摒弃老的设备系统集成观念!
导电阳极丝测试(Conductiveanodicfilamenttest,简称CAF)是电化学迁移的其中一种表现形式。它与表面树状生长的区别:1.产生迁移的金属是铜,而不是铅或者锡;2.金属丝是从阳极往阴极生长的;3.金属丝是由金属盐组成,而不是中性的金属原子组成。焊盘中的铜金属是金属离子的主要来源,在阳极电化学生成,并沿着树脂和玻璃增强纤维之间界面移动。随着时代发展和技术的革新,PCB板上出现CAF的现象却越来越严重,究其原因,是因为现在电子设备上的PCB板上需要焊接的电子元件越来越多,这样也就造成了PCB板上的金属电极之间的距离越来越短,这样就更加容易在两个金属电极之间产生CAF现象。提供质量的售后服务对于电阻测试设备的供应商来说至关重要。海南pcb绝缘电阻测试前景
表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题。江苏销售电阻测试以客为尊
Sir电阻测试可以应用于各种不同的电路中。无论是简单的电路还是复杂的电路,都可以使用Sir电阻测试来测量电阻值。这种测试方法不仅适用于实验室环境,也适用于工业生产中。在工业生产中,Sir电阻测试可以用来检测电路中的故障,提高生产效率。除了测量电阻值,Sir电阻测试还可以用来检测电路中的其他问题。例如,它可以用来检测电路中的短路和断路。通过测量电磁场的变化,可以判断电路中是否存在短路或断路问题。这种测试方法可以帮助工程师快速定位电路中的问题,并进行修复。江苏销售电阻测试以客为尊