探针台(Prober station)又称探针测试台，主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台主要应用于半导体行业以及光电行业得研发，生产制造，失效分析等，是对晶圆(Wafer)上得器件进行电特性测试或故障分析而使用得精密机台，通过探针台能很好得帮助工程技术人员实现微小位置得电学参数测试。探针台拥有先进的天文仪器，可以提供高质量的观测数据。江苏全自动探针台市价
而定子在加工过程中生产厂家根据不同的设计要求如分辨力等，用机加工的方法在一平面的铁制铸件上加工出若干个线槽，线槽间的距离即称为平面电机的齿距，而定子则按不同的细分控制方式，按编制好的运行程序借助于平面定子和动子之间的气垫才能实现步进运动。对定子的损伤将直接影响工作台的步进精度及设备使用寿命，损坏严重将造成设备无法使用而报废。由于平面电机的定子及动子是完全暴露在空气中，所以潮湿的环境及长时期保养不当将很容易使定子发生锈蚀现象，另外重物的碰撞及坚锐器物的划伤都将对定子造成损伤，而影响平面电机的步进精度及使用寿命，对于已生锈的定子可以用天然油石轻轻地向一个方向打磨定子的表面，然后用脱脂棉球蘸煤油清洗，整个过程操作要十分地细心，不可使定子表面出现凹凸不平的现象。另外也可用没有腐蚀性，不损坏定子的除锈剂除锈。大型探针台探针台的建设和运行需要具备高度的专业素养和严谨性。
半自动型，chuck尺寸800mm/600mm，X,Y电动移动行程200mm/150mm，chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜，针座摆放个数6～8颗，显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"，可搭配Probe card测试，适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品。电动型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不锈钢或镀金），X,Y电动移动行程300mm x 300mm，chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u，可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜，针座摆放个数8～12颗，显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“，材质：花岗岩台面+不锈钢，可搭配Probe card测试，适用领域：12寸Wafer、IC测试之产品。
探针台的作用是什么？探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上，从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单，例如连续性或隔离检查，也可以很复杂，包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件，这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入较终产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯，这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。探针台的科学研究成果对推动人类的科学技术进步有着举足轻重的作用。
四探针测试技术，是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。对于厚度为W（远小于长和宽）的薄半导体片，得到电阻率为ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系数。特别，对于直径比探针间距大得多的薄半导体圆片，得到电阻率为ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm]，其中W用cm作单位。探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。探针台的研究成果对人类探索宇宙和了解宇宙具有重要意义。辽宁探针台厂商
探针台的建设需要对宇宙环境综合思考，并有针对性解决相关科技难题。江苏全自动探针台市价
焊接各接口时保证焊接可靠性与密封性，腔体所有零部件连接部位均要考虑密封结构，目前 国内比较普遍应用的密封形式分为KF、CF 和 ISO 密封形式，密封圈材料有丁腈橡胶和氟橡胶 两种。在探针台测试领域一般选择KF 密封形式 和氟橡胶材料密封圈，主要特点是装配方便，氟橡 胶耐真空、耐高温、耐腐蚀性好。腔体加工完成后要进行真空检漏试验，对腔 体整体真空度漏率要求小于10～8 Pa·L/s。真空探针台工作台结构，工作台结构是真空探针台设备的关键部件之 一，在探针测试过程起着至关重要的作用。工作台 部分完全置于真空腔体内，主要包括XY 工作台和承片台两部分。江苏全自动探针台市价
