测试机基本参数
  • 品牌
  • ST,苏州茂鼎
  • 型号
  • ST8410
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一种多通道高精密LCR测试系统  [0009]在本发明中,进一步的,所述信号测量单元连接有信号转换电路,经过信号转换电路转换的正弦信号经过所述背部连接板分别传输至所述测量CPLD、扫描CPLD上,所述测量CPLD用于测量该信号,所述扫描CPLD用于驱动待测产品。[0010]在本发明中,进一步的,所述背部连接板连接有平衡转换电路,所述平衡转换电路经过增益调节电路连与所述测量CPLD连接,所述扫描CPLD获取的待测产品反馈的信号传输至背部连接板,在经过平衡转换电路进行转换,转换的信号经过增益电路传输至测量CPLD进行分析。苏州茂鼎电子的多路电阻测试机怎么使用?湖北TP触摸屏功能片大板测试机使用方法

一种多通道数字输出模块  具体实施方式 [0032]具体的,通讯接口RJ1采用RJ45系列接口,通讯芯片U2采用W5500系列通讯芯片,通讯芯片U2通过通讯接口RJ1与总控制室实现信号交互,通讯芯片与主控芯片U1实现信号交互。[0033]如图4所示,在本实施方式中,主控芯片U1还连接有复位电路,复位电路包括复位按钮,复位按钮的2号端口通过电阻R2接3.3V电源,同时通过电阻R3接入主控芯片U1,复位按钮的1号端口接地,通过复位按钮实现对主控芯片U1的重置。[0034]在本实施方式中,主控芯片U1的89和90号引脚连接有晶振电路,晶振电路为主控芯片U1提供时钟脉冲信号;主控芯片U1的11号电源引脚连接3.3V电源,同时通过电容C6接地,12号引脚接地,电容主要对输入主控芯片U1电流进行滤波。浙江快速LCR测试机费用高速LCR测试机使用原理。

根据权利要求1所述的一种多通道高精密LCR测试系统,其特征在于,所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元,所述MCU模块与所述测量CPLD连接,所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试,所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接,所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号,所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接,所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。3.根据权利要求2所述的一种多通道高精密LCR测试系统,其特征在于,所述DDS合成单元连接有滤波电路和差分电路,所述滤波电路和差分电路用于滤除信号的谐波和高频干扰。

在本发明中,推荐的,所述扫描卡和测量卡至多可设置13张[0016]在本发明中,推荐的,所述MCU模块包括主控芯片U100,所述主控芯片U100连接有USB单元以及网络通讯单元,所述USB单元用于实现主控芯片U100与外界的USB通讯,所述网络通讯单元用于实现组网。[0017]与现有技术相比,本发明的有益效果是:[0018]本发明的系统通过将每个测量卡配置一个扫描卡,测量板可以任意对应一张扫描卡或者对应多张扫描卡利用扫描卡,通过扫描卡完成多个测量通道的切换,使得测试参数、测量点位多,可同时对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量,提高测量效率。同时,本方案通道切换采用使用高隔离和寄生电容小的继电器,使得整个系统的寄生电容小,提升测量的精度,同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少,提升了测量速度。粉体分类测试机使用方法。

LCR测试仪对电阻寄生参数测量的原理是什么?LCR测试仪能准确并稳定地测定各种各样的元件参数,主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。它具有功能直接、操作简便等特点,能以较低的预算来满足生产线质量保证、进货检验、电子维修业对器件的测试要求。测试原理数字电桥的测量对象为阻抗元件的参数,包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q,电容C及其损耗因数D。因此,又常称数字电桥为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%,一般均在0.1%左右。Vx与Vr均是矢量电压表,Rr是理想电阻。多通道LCR 测试机生产厂家。湖北多通道电感测试机原理

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[0042]其中,如图15所示,通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路,所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器,所述继电器与所述扫描CPLD连接,以其中一例进行说明,切换电路包括继电器RY600,继电器RY600的1脚接+5VD电源,2脚与扫描CPLD的116脚连接,3脚连接至插排上实现信号的转接,通过扫描CPLD控制继电器继电器RY600两个点位的高低电平,实现对该通道的控制。如此,整个通道切换单元使用高隔离和寄生电容小的继电器,使得整个系统的寄生电容小,提升测量的精度,同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少,提升了测量速度。[0043]在本发明中,进一步的,如图4所示,所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元,所述MCU模块与所述测量CPLD连接,所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试,所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接,所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号,所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接,所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。湖北TP触摸屏功能片大板测试机使用方法

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