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高温计基本参数
  • 品牌
  • 思捷光电
  • 型号
  • STRONG系列,MARS系列,EX-SMART光纤系列
  • 测量方式
  • 非接触式
  • 显示方式
  • 数显
  • 安装形式
  • 支撑式安装
  • 测量范围
  • 具体咨询
  • 测量精度
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  • 测量误差
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  • 分辨率
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  • 加工定制
  • 是否进口
高温计企业商机

红外测温仪的双色与单色类型,差异源于测温原理,这也决定了它们在不同工业场景中的适配性。常州思捷光电的产品体系中,STRONG 系列(双色)与 MARS 系列(单色)的对比,恰好能清晰展现两者的区别与应用边界。从原理来看,单色红外测温仪(如 MARS 系列)通过捕捉物体单一狭窄波长的红外辐射能量计算温度,测量的是区域平均温度,但易受发射率、镜头污染、背景辐射影响 —— 例如被测物体表面氧化会改变发射率,导致单色仪测量偏差;而双色红外测温仪(如 STRONG 系列)则通过两个邻近波长辐射能量的比值确定温度,比值与温度呈线性关系,即使存在灰尘、水汽、目标部分遮挡或发射率变化,两个波长的信号会同步衰减,比值保持稳定,因此抗干扰能力更强。STRONG-SR-6016 等多款产品获 “常州市高新技术产品” 认定。漳州特制高温计原理

漳州特制高温计原理,高温计

常州思捷光电深耕红外测温领域多年,打造的 MARS-S 系列单色红外测温仪,以高精度、高稳定性成为半导体行业真空炉温度监测的关键设备。该系列测温范围 580℃~3050℃,分段适配单晶炉、多晶炉、真空炉等半导体生产场景,搭载 Si 硅光电池探测器,工作波长 (0.85~1.1)μm,测量精度 ±0.5% T℃,分辨率 0.1℃,重复精度 ±2℃,确保温度数据准确可靠。产品距离系数达 100:1 或 200:1,调焦范围覆盖 0.25m~0.65m 至无穷远,能准确锁定真空炉内小目标区域温度。响应时间 5ms 快速响应,可定制至 3ms,实时捕捉温度动态变化,搭配峰值、谷值、平均值信号处理功能,满足不同监测需求。PID 恒温控制与全量程温度补偿技术,有效抵消环境温度对测量精度的影响,特殊设计的窄带红外滤片,大幅降低发射率变化带来的误差。供电电源采用 DC (20~30) V 设计,带过压、过流、短路保护,内置 EMI 滤波器可抗 2500VDC 脉冲群干扰,适配半导体生产的复杂电磁环境。工业级 OLED 显示屏操作便捷,支持 LED 绿光源或目视瞄准,1:1 显示目标大小,定位准确。思捷光电凭借与高校及行业企业的合作优势,结合先进的 EMC 测试平台与无尘实验室,为半导体企业提供稳定可靠的测温解决方案,助力提升芯片生产良率。太原双色红外高温计对比有色金属加工中,红外测温仪适配铝、铜、锌等低发射率材料。

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常州思捷光电的 STRONG 系列双色红外测温仪,凭借 “双色 + 单色” 双模切换的优势,成为冶金、半导体、玻璃等行业高精度测温的优先选择。该系列细分为 STRONG-SR 与 STRONG-GR 两大子系列,测温范围覆盖 250℃~3200℃(分段),可准确匹配不同温度区间的工业需求 ——SR 系列测温达 3200℃,适配高温炉、石墨炉、激光加热等超高温场景;GR 系列温度低至 250℃,适合有色金属加工、镀锌线、退火炉等中低温工况。在技术性能上,STRONG 系列的距离系数从 30:1 到 200:1 不等,高距离系数(如 200:1)型号能实现远距离小目标测量,例如在型钢轧制中,可准确捕捉线棒材的瞬时温度变化。探测器采用叠层硅(Si/Si)或叠层铟镓砷(InGaAs/InGaAs),搭配特殊设计的窄带红外滤片,测量精度达 ±0.5% T(T 为测量温度值),分辨率 0.1℃,重复精度 ±2℃,即使在信号衰减 95% 的情况下,仍能保持测温稳定。

红外测温仪的模拟量输出是连接设备与工业控制系统(如 PLC、DCS)的关键接口,通过将温度信号转换为标准电流或电压信号,实现温度的实时监控与闭环控制。常州思捷的全系列红外测温仪支持多种模拟量输出类型(4~20mA、0~20mA、0~5V、0~10V),且参数可编程,适配不同控制系统的信号需求。模拟量输出类型的选择需根据控制系统的输入接口与传输距离确定:4~20mA 电流输出是工业优先选择,适用于 “长距离传输、抗干扰” 的场景(如车间到中控室的远距离传输)—— 电流信号在传输过程中衰减小,且抗电磁干扰能力强,即使传输距离超过 100 米,信号误差仍可控制在 ±0.1% 以内。例如在水泥窑测温中,红外测温仪安装在窑头(距离中控室 200 米),采用 4~20mA 电流输出,将 1000℃~1500℃的温度信号传输至 PLC,PLC 根据电流大小调整窑内燃料供给。0~20mA 电流输出则适用于 “需要零点信号” 的场景,如低温冷藏库测温(0℃~50℃),0mA 对应 0℃,20mA 对应 50℃,便于控制系统识别零点状态。思捷测温仪支持峰值、谷值、平均值信号处理,具备掉电保护功能。

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半导体制造对温度精度要求极高,思捷光电提供覆盖晶圆加工、薄膜沉积、长晶等环节的精密测温方案。晶圆加工阶段,蚀刻与沉积温度需控制在 ±1℃以内,EX-SMART 系列光纤双色仪(350℃~3300℃)以 1ms 响应捕捉温度细微变化,三模式测温对比分析数据,抗电磁干扰设计适配光刻机等设备。第三代半导体长晶炉测温选用 STRONG-SR 系列双色仪(700℃~3200℃),准确监测炉内温度,形成工艺曲线,保障晶体质量;薄膜沉积环节,MARS-G 系列(300℃~2500℃)监测沉积温度,确保薄膜厚度均匀。设备支持以太网通讯,与半导体自动化系统联动,实现温度闭环控制,提升产品良率。石油化工领域用思捷测温仪监测废水焚烧、石化产品生产温度。漳州特制高温计原理

响应速度快至 5ms,捕捉瞬时温度变化。漳州特制高温计原理

工业现场的强电磁环境(如中频炉、高频加热设备、高压电机)会产生大量电磁辐射,干扰红外测温仪的电路信号,导致测量数据漂移、设备故障。常州思捷的全系列红外测温仪通过内置 EMI 滤波器、优化电路布局、进行电磁兼容(EMC)测试等抗干扰设计,确保设备在强电磁环境下仍能稳定运行,测量精度不受影响。EMI 滤波器是抗电磁干扰的组件,思捷设备内置的 EMI 滤波器可抗 2500VDC 脉冲群干扰,能有效抑制外界电磁辐射通过电源线路进入设备内部 —— 脉冲群干扰是工业场景中常见的电磁干扰类型(如电机启停产生的脉冲),若不抑制,会导致设备电路电压波动,影响探测器与信号处理模块的性能。例如在中频炉感应加热场景中,中频炉工作时会产生 2500VDC 以上的脉冲群,若无 EMI 滤波,红外测温仪的测量误差可能增加 2%~5%,远超工业要求;而思捷设备通过 EMI 滤波器,可将脉冲群干扰对测量精度的影响降至 ±0.1% 以内,确保数据可靠。漳州特制高温计原理

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