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测试系统基本参数
  • 品牌
  • 国磊
  • 型号
  • 齐全
测试系统企业商机

HBM的集成不****是带宽提升,更带来了复杂的混合信号测试挑战。SoC与HBM之间的信号完整性、电源噪声、时序对齐(Skew)等问题,直接影响芯片性能与稳定性。国磊GT600测试机凭借其模块化设计,支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模拟板卡,实现“数字+模拟”一体化测试。例如,通过GT-TMUHA04(10ps分辨率)精确测量HBM接口时序偏差,利用GT-AWGLP02(-122dBTHD)生成纯净激励信号,**验证高速SerDes性能。GT600将复杂问题系统化解决,为HBM集成芯片提供从DC参数到高频信号的**测试保障,确保每一颗芯片都经得起AI时代的严苛考验。电源门控模块在唤醒时快速供电进入状态。GT600利用GT-TMUHA04测量从门控信号到模块输出有效信号的时间。CAF测试设备供应商

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国际数据公司(IDC)预测的人工智能服务器市场高速增长(2024年1251亿美元→2028年2227亿美元),本质上是高算力芯片(GPU、ASIC)在功耗、密度与可靠性层面极限挑战的集中体现。每一块AI加速卡背后,都是数百瓦功耗、数千电源引脚、多级电压域、复杂电源门控与瞬态电流管理的设计博弈。而这些,正是国磊GT600SoC测试机凭借其高精度电源与功耗验证能力,**切入并把握产业机遇的技术支点。AI芯片普遍采用7nm/5nm等先进工艺,静态漏电(Leakage)随工艺微缩呈指数增长。国磊GT600通过每通道PPMU,支持nA级静态电流测量,可**识别G**SIC在待机、休眠模式下的异常漏电,确保电源门控(PowerGating)机制有效,避免“隐形功耗”拖累整机能效。其高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压输出,可**控制AI芯片的Core、Memory、I/O等多电源域,验证上电时序(PowerSequencing)与电压裕量(VoltageMargining),防止因电源顺序错误导致的闩锁或功能失效。国产替代导电阳极丝测试系统批发国磊GT600SoC测试机可以通过GPIB/TTL接口联动探针台与分选机,实现全自动测试。

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AI眼镜的崛起标志着消费电子向“感知+计算+交互”一体化演进。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信号器件,测试难度远超传统MCU。国磊GT600测试机凭借nA级电流测量、高精度模拟测试、10ps时序分析、高并行架构与开放软件平台,成为AI眼镜SoC从研发验证到量产落地的关键支撑。它不**满足当前40/28nm节点的测试需求,更具备向更先进工艺延伸的能力。在AI终端加速渗透的浪潮中,GT600为国产可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的测试解决方案,助力中国智造抢占下一代人机交互入口。

AI眼镜作为下一代可穿戴计算终端,正面临“功能丰富度、续航时长、设备重量”三者难以兼得的工程难题。为实现语音交互、实时翻译、环境感知与轻量化设计,其**SoC必须在极小面积内集成CPU、NPU、DSP、蓝牙/Wi-Fi射频、传感器接口与电源管理模块,同时在先进工艺节点下实现**静态功耗。这类高度集成的异构SoC对测试设备提出了严苛要求:不**需验证复杂功能逻辑,更要精确测量nA级漏电流、微瓦级动态功耗及多电源域切换时序。国磊GT600测试机支持每通道PPMU,可实现nA级IDDQ测量,**识别SoC在睡眠模式下的漏电异常,确保续航能力不受“隐形功耗”拖累。国磊GT600通过SMU或Digitizer监测目标电源域电压,若在门控关闭后电压仍维持非零值,表明电源未真正切断。

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可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形,用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能,THD低至-122dB,信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率,可精确测量5G基带信号的抖动与延迟,保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号,用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时,杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形,实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC,无需外接多台设备,节省空间与成本。国磊GT600在400MHz速率下测试SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能验证。无锡CAF测试系统

国磊GT600SoC测试机边沿精度(EPA)达100ps,确保HBM高速信号建立/保持时间(Setup/Hold)的精确测量。CAF测试设备供应商

医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器(CIS)和图像信号处理器(ISP)对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法(如降噪、边缘增强),并通过AWG注入模拟图像信号,验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流,筛选出“省电体质”芯片;其支持长时间老化测试,可模拟10年以上使用寿命,确保植入后万无一失。 综上,国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力,为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。CAF测试设备供应商

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杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其高精度、高可靠性与混合信号测试能力,特别适用于对安全性和稳定性要求极高的**医疗设备芯片的测试。以下几类关键芯片非常适合使用杭州国磊GT600进行验证: 1. 医用SoC与微控制器(MCU) 现代医疗设备(如便携式超声仪、智能监护仪、血糖仪)的**是集成了CPU、ADC、DAC、无线通信模块的SoC或MCU。国磊GT600可***验证其数字逻辑功能,并通过可选AWG和Digitizer板卡,精确测试模拟前端(AFE)对生物电信号(如心电ECG、脑电EEG)的采集精度与噪声抑制能力,确保测量数据真实可靠。 2. 高精度模拟与混合信号芯片 医疗设备依赖高精度A...

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