ArF浸没式两次曝光技术已被业界认为是32nm节点较具竞争力的技术；在更低的22nm节点甚至16nm节点技术中，浸没式光刻技术一般也具有相当大的优势。浸没式光刻技术所面临的挑战主要有：如何解决曝光中产生的气泡和污染等缺陷的问题；研发和水具有良好的兼容性且折射率大于1．8的光刻胶的问题；研发折射率较大的光学镜头材料和浸没液体材料；以及有效数值孔径NA值的拓展等问题。针对这些难题挑战，国内外学者以及公司已经做了相关研究并提出相应的对策。浸没式光刻机将朝着更高数值孔径发展，以满足更小光刻线宽的要求。混合刻蚀是将化学刻蚀和物理刻蚀结合起来的方法，可以实现更高的加工精度。南京干法刻蚀
湿法刻蚀是化学清洗方法中的一种，化学清洗在半导体制造行业中的应用，是用化学方法有选择地从硅片表面去除不需要材料的过程。其基本目的是在涂胶的硅片上正确地复制掩膜图形，有图形的光刻胶层在刻蚀中不受到腐蚀源明显的侵蚀，这层掩蔽膜用来在刻蚀中保护硅片上的特殊区域而选择性地刻蚀掉未被光刻胶保护的区域。从半导体制造业一开始，湿法刻蚀就与硅片制造联系在一起。虽然湿法刻蚀已经逐步开始被法刻蚀所取代，但它在漂去氧化硅、去除残留物、表层剥离以及大尺寸图形刻蚀应用等方面仍然起着重要的作用。与干法刻蚀相比，湿法刻蚀的好处在于对下层材料具有高的选择比，对器件不会带来等离子体损伤，并且设备简单。绍兴刻蚀设备刻蚀技术可以用于制造光子晶体和纳米光学器件等光学器件。
刻蚀也可以分成有图形刻蚀和无图形刻蚀。有图形刻蚀采用掩蔽层（有图形的光刻胶）来定义要刻蚀掉的表面材料区域，只有硅片上被选择的这一部分在刻蚀过程中刻掉。有图形刻蚀可用来在硅片上制作多种不同的特征图形，包括栅、金属互连线、通孔、接触孔和沟槽。无图形刻蚀、反刻或剥离是在整个硅片没有掩模的情况下进行的，这种刻蚀工艺用于剥离掩模层（如STI氮化硅剥离和用于制备晶体管注入侧墙的硅化物工艺后钛的剥离）。反刻是在想要把某一层膜的总的厚度减小时采用的（如当平坦化硅片表面时需要减小形貌特征）。
二氧化硅的干法刻蚀方法：刻蚀原理氧化物的等离子体刻蚀工艺大多采用含有氟碳化合物的气体进行刻蚀。使用的气体有四氟化碳(CF)、八氟丙烷(C，F8)、三氟甲烷(CHF3)等，常用的是CF和CHFCF的刻蚀速率比较高但对多晶硅的选择比不好，CHF3的聚合物生产速率较高，非等离子体状态下的氟碳化合物化学稳定性较高，且其化学键比SiF的化学键强，不会与硅或硅的氧化物反应。选择比的改变在当今半导体工艺中，Si02的干法刻蚀主要用于接触孔与金属间介电层连接洞的非等向性刻蚀方面。前者在S102下方的材料是Si，后者则是金属层，通常是TiN（氮化钛），因此在Si02的刻蚀中，Si07与Si或TiN的刻蚀选择比是一个比较重要的因素。材料刻蚀技术可以用于制造微型电极和微型电容器等微电子器件。
反应离子刻蚀：这种刻蚀过程同时兼有物理和化学两种作用。辉光放电在零点几到几十帕的低真空下进行。硅片处于阴极电位，放电时的电位大部分降落在阴极附近。大量带电粒子受垂直于硅片表面的电场加速，垂直入射到硅片表面上,以较大的动量进行物理刻蚀,同时它们还与薄膜表面发生强烈的化学反应，产生化学刻蚀作用。选择合适的气体组分，不仅可以获得理想的刻蚀选择性和速度，还可以使活性基团的寿命短，这就有效地阻止了因这些基团在薄膜表面附近的扩散所能造成的侧向反应，较大提高了刻蚀的各向异性特性。反应离子刻蚀是超大规模集成电路工艺中比较有发展前景的一种刻蚀方法材料刻蚀可以通过化学反应或物理过程来实现，具有高度可控性和精度。厦门化学刻蚀
刻蚀技术可以用于制造生物芯片和生物传感器等生物医学器件。南京干法刻蚀
材料刻蚀和光刻技术是微电子制造中非常重要的两个工艺步骤，它们之间有着密切的关系。光刻技术是一种通过光学投影将芯片图形转移到光刻胶上的技术，它是制造微电子芯片的关键步骤之一。在光刻过程中，光刻胶被暴露在紫外线下，形成一个芯片图形的影像。然后，这个影像被转移到芯片表面上的硅片或其他材料上，形成所需的芯片结构。这个过程中，需要使用到刻蚀技术。材料刻蚀是一种通过化学或物理手段将材料表面的一部分去除的技术。在微电子制造中，刻蚀技术被广泛应用于芯片制造的各个环节，如去除光刻胶、形成芯片结构等。在光刻胶形成芯片图形后，需要使用刻蚀技术将芯片结构刻入硅片或其他材料中。这个过程中，需要使用到干法刻蚀或湿法刻蚀等不同的刻蚀技术。因此，材料刻蚀和光刻技术是微电子制造中密不可分的两个技术，它们共同构成了芯片制造的重要步骤。光刻技术用于形成芯片图形，而材料刻蚀则用于将芯片图形转移到芯片表面上的材料中，形成所需的芯片结构。南京干法刻蚀
