荧光寿命成像显微术是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。除了具有特有的发射光谱外,每个荧光分子还有特有的寿命,它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。除了标准的荧光强度测量外,寿命分析还可以提供其他信息。提高质量,荧光寿命成像提供了额外的信息,有助提高共聚焦成像的质量。 它非常适合用于区分荧...
荧光寿命显微成像技术具有对生物大分子结构、动力学信息和分子环境等进行高分辨高精度测量的能力,因此其重要性日渐提升,被普遍地应用于生物学研究及临床诊断等领域。荧光寿命,分子包含多个能态S0、S1、S2和三重态T1,每个能态都包含多个精细的能级。正常情况下,大部分电子处在较低能态即基态S0的较低能级上,当分子被光束照射,会吸收光子能量,电子被激发到更高的能态S1或S2上,在S2能态上的电子只能存在很短暂的时间,便会通过内转换过程跃迁到S1上,而S1能态上的电子亦会在极短时间内跃迁到S1的较低能级上,而这些电子会存在一段时间后通过震荡弛豫辐射跃迁到基态,这个过程会释放一个光子,即荧光。生物发光与荧光寿命成像不同点:产生光子的原理不同。安徽荧光寿命成像原理
荧光寿命成像中的荧光寿命及其含义:假定一个无限窄的脉冲光(δ函数)激发n0个荧光分子到其激发态,处于激发态的分子将通过辐射或非辐射跃迁返回基态。假定两种衰减跃迁速率分别为Γ和knr,则激发态衰减速率可表示为:其中n(t)表示时间t时激发态分子的数目,由此可得到激发态物种的单指数衰减方程。荧光寿命定义为衰减总速率的倒数:荧光强度正比于衰减的激发态分子数,因此可将上式改写为:其中I0是时间为零时的荧光强度,τ为荧光寿命。也就是说荧光强度衰减到初始强度的1/e时所需要的时间就是该荧光物种在测定条件下的荧光寿命。实际上用荧光强度的对数对时间作图,直线斜率即为荧光寿命倒数的负值。荧光寿命也可以理解为荧光物种在激发态的统计平均停留时间。事实上当荧光物质被激发后有些激发态分子立即返回基态,有的甚至可以延迟到5倍于荧光寿命时才返回基态,这样就形成了实验测定的荧光强度衰减曲线。湖南荧光寿命成像采购荧光寿命成像基于荧光团的荧光寿命取决于其分子环境而并非浓度的事实。
荧光寿命成像有什么作用?荧光寿命可以在频域或者时间域测量。时间域测量方法涉及用短光脉冲照射样品(比色皿、细胞或组织),然后随时间测量发射强度。FLT由衰减曲线的斜率确定。有几种荧光检测方法可用于寿命测量,其中时间相关单光子计数(TCSPC)可实现简单的数据收集和增强的定量光子计数。频域方法涉及高频率入射光的正弦调制。在该方法中,发射发生在与入射光相同的频率处,并且随着激发光兼有相位延迟和振幅的变化(解调)。寿命测量不需要波长比率探针来提供众多分析物的定量测定。寿命法通过使用光谱位移探针扩展了分析物浓度范围的灵敏度。
影响荧光寿命成像测量的因素有哪些?温度影响:一般说来,荧光随温度升高而强度减弱,温度升高1℃,荧光强度下降1~10%不等。测定时,温度必须保持恒定。PH值影响:PH 值影响物质的荧光,应选择较佳PH制备样品。光分解对荧光测定的影响: 荧光物质吸收紫外可见光后,发生光化学反应,导致荧光强度下降。因此,荧光分析要采用高灵敏度的检测器,而不是用增强光源来提高灵敏度。测定时,用较窄的激发光部分的狭缝,以减弱激发光。同时,用较宽的发射狭缝引导荧光。荧光分析应尽量在暗环境中进行。荧光寿命成像这种技术相对较新,涉及到同时在图像的每个像素处确定荧光衰减时间的空间分布。荧光寿命成像已用于骨骼和牙齿的诊断。
荧光寿命成像在生物医学研究和临床诊断应用中的许多场合都对多光谱分辨提出特殊要求,如在FRET测量中,要求能同时测量供体和受体的荧光强度随时间的衰减,多光谱分辨的荧光寿命成像提供了一种新的定量研究手段.目前,基于门控像增强器的多光谱宽场FLIM 技术一次只能获得至多两个谱段的荧光寿命图像,而基于TCSPC的多光谱分辨FLIM的成像速度又很低,这些都限制了其应用范围.目前的一个研究方向是,发展光谱分辨率高、成像速度快、价格低廉的多光谱分辨荧光寿命成像显微技术。荧光成像在疾病诊断,药物分布和代谢评估以及血管生物成像中得到了普遍的应用。安徽荧光寿命成像原理
荧光寿命成像可用于多种生物应用,包括组织表面扫描、组织类型绘图、光动力治理、DNA芯片分析等。安徽荧光寿命成像原理
荧光寿命成像技术是怎么运作的?通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅(即检测到的光子数)。由于FRET减少了供体寿命,因此如果无FRET的供体寿命已知,就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此,FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性,因此对其他不利影响(如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平)具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。安徽荧光寿命成像原理
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荧光寿命成像显微术是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。除了具有特有的发射光谱外,每个荧光分子还有特有的寿命,它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。除了标准的荧光强度测量外,寿命分析还可以提供其他信息。提高质量,荧光寿命成像提供了额外的信息,有助提高共聚焦成像的质量。 它非常适合用于区分荧...
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