荧光寿命成像基本参数
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荧光寿命成像企业商机

荧光寿命成像是什么?如果分子环境刺激激发态衰变而不发射光子,则荧光强度会降低(淬灭)。荧光淬灭是一条单独的发射路径,因此在动力学上与荧光过程形成竞争关系。激发态存储现在可以通过一个以上的过程衰变,从而缩短荧光寿命。这种寿命的改变可用于收集分子环境的信息。一种特殊类型的淬灭是将激发能量以非辐射的方式传递到相邻的不同荧光染料中:“荧光共振能量转移”,FRET。此时,不只第1个荧光染料(供体)变暗,寿命变短,而且第二个荧光染料(受体)在“错误的”激发颜色下开始发光。由于这种效果的产生需要两种荧光染料(小于10 nm)的密切接触,因此将其用作研究分子相互作用的“分子标尺”。它也是许多现代FRET生物传感器的基础。荧光寿命成像提供了寿命分布的二维图形视图。江苏开放式荧光寿命成像供货商

荧光寿命成像显微技术已在生命科学,临床荧光寿命领域中得到了普遍的应用。成像,扩散光学层析成像,荧光相关光谱等等。使用我们专有的多维时间相关单光子计数技术(TCSPC),我们的FLIM和TCSPC系统具有超高光子效率的特点。因此,科学家,医生,研究人员和其他用户能够进行TCSPC FLIM显微镜检查,多波长FLIM,同时FLIM和快速获取FLIM。生命科学是我们荧光寿命成像显微(FLIM)设备的主要应用领域。我们的技术经常用于以下领域:分子影像学、代谢成像、FRET成像、同时进行NAD(P)H和pO2成像。江苏开放式荧光寿命成像供货商将荧光寿命成像与共聚焦成像技术结合起来,实现人体三维荧光寿命成像,实现人体三维功能成像奠定基础。

荧光寿命成像分析:荧光寿命是用于几种生物测定的稳健参数。它有可能替代传统的测量技术,如吸收法、冷光法或荧光强度法3。荧光团物理化学环境的任何变化都会导致荧光寿命的改变。可通过各种机制来研发基于寿命的分析,例如简单的结合测定,涉及到两个组分的结合(一个被荧光标记)而引起FLT的变化。另一种机制是猝灭释放型测定,涉及大量过量存在的猝灭物质,其具有低而有限的荧光。一旦荧光化合物被释放(通过酶促反应或与互补DNA结合),系统的寿命就会改变。FLT可与FRET(荧光共振能量转移)分析结合用于能量转移效率测量。

与荧光光谱一样,荧光寿命也是荧光物质的一种内在特有性质,不受荧光物质浓度、激发光强度等因素的影响。荧光寿命成像能在不受荧光强度影响因素影响的条件下,在纳米分辨率水平对蛋白互作进行研究,或者通过 FRET 探针研究分子环境变化,更重要的是其测量数据准确性高、易重复。通过荧光寿命成像还可以对样本所处的微环境进行检测、对样品组份进行分离等等。在传统的荧光强度和荧光光谱两个维度的基础上,又增加了荧光寿命这一新的成像维度,大幅度拓展了该系统的应用范围。荧光寿命成像不受光漂白的影响。

在使用TCSPC测量荧光寿命的过程中,需要调节样品的荧光强度,确保每次激发后较多只有一个荧光光子到达终止光电倍增管。TCSPC方法的突出优点是灵敏度高、测量结果准确、系统误差小。采用该技术对样品进行荧光寿命成像时,必须逐点测量样品的荧光寿命,而每一点的测量时间又比较长,因此,通常认为该技术不太适合荧光寿命测量。不过,近年来,随着TCSPC技术和固体超快激光技术的发展,TCSPC技术已具备快速测量荧光寿命的条件。通过与激光共聚焦显微镜的结合,可以对样品进行荧光寿命成像的测量。荧光寿命成像技术是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术。江苏开放式荧光寿命成像供货商

影响荧光寿命成像测量的因素有哪些?江苏开放式荧光寿命成像供货商

时域法荧光寿命的测量和荧光寿命成像主要有时间相关单光子计数法(time correlated single photon counting, TCSPC)、门控探测法(time-gated detection)、条纹相机测量法(streak-FLIM)、频闪技术等四种常见的方法。TCSPC是目前测量荧光寿命的主要技术,同轴脉冲光源发出的脉冲光引起起始光电倍增管产生电信号,该信号通过恒分信号甄别器1启动时幅转换器(time-amplitude converter,TAC),时幅转换器产生一个随时间线性增长的电压信号。此外,同轴脉冲光源发出的脉冲光通过激发单色器后到达样品池,样品产生的荧光信号再经过发射单色器到达终止光电倍增管,由此产生的电信号经由恒分信号甄别器2到达时幅转换器并使其停止工作。此时,时幅转换器根据累积电压输出一个数字信号并在多通道分析仪(multi-channel analyzer)的相应时间通道计入一个信号,表明检测到寿命为该时间的一个光子。经过几十万次的重复后,不同的时间通道累积下来的光子数目不相同。江苏开放式荧光寿命成像供货商

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