半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：1.参数探测：提供制造期间的装置特性测量；2.晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafersort)测试装置功能；3.以针座为基础的晶圆处理探测(FinalTest)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。晶圆在通过基本的特性测试后，即进入晶圆探测阶段，此时需要用复杂的机器、视觉及软件来侦测晶圆上的每颗裸晶，精确度约在±2.0μm之间。将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/Opads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。针座够增大PIN针的退PIN力，使PIN针不易被顶出。茂名wafer 针座
新型侧孔溶药针，包括针座，护套，弹性件，针头，针头固定连接在针座上，针头底部的侧面设置侧孔;护套包括圆环，硬质部和柔性部，圆环固定连接在硬质部的顶端，并在针座表面设置环形的凹槽，圆环卡入凹槽内;柔性部连接在硬质部上，柔性部内设置弹性件。利用外部可折叠收缩的护套将溶药针针头罩在其内，避免反复操作过程中的误伤以及针头污染问题，而护套为多结构组合，能够从针座上拆卸与安装，经定期消毒处理后可反复使用，避免浪费。梅州TE针座国产替代源头厂家针座两直角边上分别设置立贴和卧贴焊接部，使得立贴和卧贴贴片针座都能公用。
通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至针座，然后通过针座至芯片上的焊点，到达被测器件，并后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是接触电阻，它会受针座参数的影响，如针座的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及针座的平整度。此外，针座尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。
如何将针座连接至待测点：(1)显微镜小倍数物镜下找到待测点（或附近的位置），使待测点成像清晰。(2)确认定位器XYZ三轴均中间行程位置（即各轴导轨端面螺丝对齐）。Z轴也可略向上错开3mm左右。(3)安装并调节好针座的高度，侧向平视，观察针座与样品台（或样品）间的距离（大概5mm，或略小于5mm）。可通过调节针座臂或针座臂适配器的高度进行粗调定位。(4)移动定位器，将所有针座移动至显微镜光斑下。此时通过目镜观察可看到针座的虚影（针座成像未实体化）。针座固定倒勾能够在该固定槽内移动。
针座的上端是在平面上成十字形的连接筋。针座的下端套于留置针的尾端上并与留置针粘接。橡皮塞的下端与连接筋为一个整体。套筒的下端套于针座的上端上，圆筒形的乳胶套的上端与套筒的外侧粘接，乳胶套的下端与针座的外侧粘接。通过圆台形的橡皮塞与圆台形的注射通道相互配合来对液体进行密封，紧密可靠，具有良好的防回血功能。种医疗器械，它由注射通道，套筒，橡皮塞，过液腔，连接筋，乳胶套，针座，留置针和观察窗构成。套筒为圆筒形，针座的上端是在平面上成十字形的连接筋。针座的下端套于留置针的尾端上并与留置针粘接。橡皮塞的下端与连接筋为一个整体。针座引流管为带有刻度的内空软质柔性引流管。深圳探针针座工厂
针座提供了其适用性，很大提高了市场竞争力。茂名wafer 针座
针座连接器，该针座连接器与印制电路板组装，用于设备电压信号和电流信号的传输与保护，它包括通过固定片固定的多个注塑绝缘体，每个注塑绝缘体内嵌有多个铜端子结构件，铜端子结构件由主体端子以及位于主体端子两端的端子焊接脚与端子面组成，且端子焊接脚与端子面均突露于注塑绝缘体;的有益效果是:揭示的针座连接器，其端子阵列点间距为6。5倍密，端子面采用高精加工工艺，保证了端子面的平整度的，也就保证了产品端子面与新型阵列弹性针的接触可靠，能有效实现电流，电压信号在连接器中的安全传输和保护。茂名wafer 针座
