测量状态指示灯包含三个LED信号灯，分别显示系统错误、光信号强度和量程预警。系统错误信号灯指示传输数据是否过载，光信号强度指示灯显示当前光强信号是否超过5%，而量程预警指示灯则显示测量样品是否在量程范围内。系统错误信号灯正常状态为关闭状态，即不显示任何颜色光。但当使用RS232或RS422接口同时传输数据时，测量频率和传输数据格式都可能影响数据传输量。当传输数据量过载时，该信号灯点亮为红色状态，此时则应该适当降低测量频率或更改数据传输格式。此外，选用USB方式传输则会较少遭遇数据过载情况。马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，期待您的光临！北京Marposs 传感器应用案例
航空航天属于高精尖技术领域，技术对安全性要求极高，因此航空航天部件的制造生产中对产品工艺和质量的要求是极为苛刻的。这是司逖光谱共焦传感器在飞机多层玻璃厚度检测方面的运用:飞机多层玻璃厚度测量光谱共焦传感器信号灯为了方便用户实时了解传感器的运行状态，光谱共焦传感器的面板上共有六组信号灯，分别从电源、USB连接、测量头连接、测量状态等四个方面呈现传感器的实际情况。电源、USB连接和测量头连接以LED信号指示灯显示，在传感器开启电源后，上述三个LED信号灯为绿色，表明传感器已可以准备正常工作。辽宁点光谱共焦传感器测量速度马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，期待您的光临！
什么是光谱共焦技术？光谱共焦位移传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理，光谱共焦传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。传感器适用于绝大多数行业：计量或研究实验室中的高精度仪器，工业生产线上的质量控制。用于工业环境中的设计，传感器的各系列，吸引集成器与测量检测机器轻松连接，这归功于为每台仪器提供的动态链接库（DLL）。光谱共焦成像基于2个原则：l共焦成像l光轴的彩色编码。共焦装置是一种光学装置，光学系统在物体的表面上产生点光源S的图像S’。反向散射光由相同的光学系统收集，该光学系统在***S’’处成像。***被置于光电探测器的前面，它过滤可以到达光电探测器的光线，因此它也被称为“空间滤波器”。共焦装置的特点是具有特殊的信噪比。按照CCI原理，光学系统是彩色光学头，光电探测器是一个光谱仪。
光谱共焦技术的非接触测量Irix?是一系列基于彩色共焦技术的非接触式传感器，能够测量对白光透明的任何材料上的距离和厚度。Irix?可同时测量5层材料。该控制器可与一大系列具有不同测量范围、机械尺寸和计量规范的光学探针结合使用，以满足多样化的应用需求。控制器有两种型号可供选择：带7英寸集成显示屏，或带有用于文件柜.display或采用盲板形式，机柜采用带DIN导轨连接。Irix控制器系列由不同型号（1个和2个同步通道）组成，结合各种各样的光学元件（Marposs和STIL），可提供优良的计量性能（高达纳米）。Irix以比较高的质量标准制造，是一种坚固可靠的产品，适合在工业环境中使用。彩色共焦技术允许测量任何能够反射白光的材料（例如：金属、玻璃、塑料、漆膜、液体）。非接触式测量适用于所有需要在不接触目标的情况下进行测量的情况一个光学探针可同时测量多达五个透明层高测量精度可互换传感器；Irix可保存多达32张地图，以便使用比较合适的探头。集成7“显示器不受热噪声和电噪声影响的无源光学探头SDK和协议命令的可用性，便于集成到任何系统中缩小测量点动态采集用编码器同步测量（空间同步）粗糙度测量马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，竭诚为您。
应用范围：光谱共聚焦传感器既可用于工业环境中，也可用于生产过程中的在线检测以及实验室环境中的高精度仪器。他们主要涵盖以下内容：l微形貌（测量样品的形状和表面特征）l尺寸控制（测试制造产品的特定尺寸是否符合规格）l质量控制(制造产品缺陷的识别和特征描述）l粗糙度测量（测量样品表面的统计特征）l摩损度（表征机械或化学侵蚀）l厚度测量光谱共焦传感器完全符合涉及3D真实表面纹理的测量和分析的ISO25178标准。此外，此标准第601章节致力于非接触式表面测量，引用CCI作为***参考技术原理马波斯测量科技是一家专业提供光谱共焦传感器的公司，欢迎您的来电！黑龙江stil传感器原理
适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理。北京Marposs 传感器应用案例
ENITH控制器采用比较高质量标准制造，是一款坚固可靠的产品，可满足车间环境（如实验室）中**苛刻的应用，是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。ZENITH控制器的柔性测量，可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯，ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量，而不会对被测产品造成任何损坏。ZENITH框架紧凑，结构稳固，专为7天24小时全天候使用而设计。2ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量，包括各种反射性材料。3高频率采样是ZENITH与编码器（**多5个）结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光学笔：CL-MG、OP、ENDO和EVEREST，实现达纳米级精度的计量表现。北京Marposs 传感器应用案例
